[發明專利]分析系統及其分析方法在審
| 申請號: | 202010149961.4 | 申請日: | 2020-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN112397152A | 公開(公告)日: | 2021-02-23 |
| 發明(設計)人: | 賴盈達;歐育誠;陳依希;陳冠穎;陳璽元;劉育佑 | 申請(專利權)人: | 克雷多診斷生物醫學私人有限公司 |
| 主分類號: | G16B40/10 | 分類號: | G16B40/10;G16B25/20 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 王濤;湯在彥 |
| 地址: | 新加坡*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分析 系統 及其 方法 | ||
1.一種分析方法,其特征在于,包含有:
取得第一數據;以及
依據至少一基底對該第一數據進行曲線擬合,以產生對應該至少一基底的至少一系數,其中,該至少一基底中的一者對應的函數圖形具有不對稱性。
2.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,該第一數據為待測物被激發的第一熒光信號強度與波長的對應關系,該至少一基底中的每一者分別為已知物質被激發的第二熒光信號強度與波長的對應關系。
3.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,該函數圖形于第一波長區間的定積分小于該函數圖形于第二波長區間的定積分,該第一波長區間的積分下界對應該函數圖形的第一局部極小值,該第二波長區間的積分上界對應該函數圖形的第二局部極小值,且該第一波長區間的積分上界與該第二波長區間的積分下界均對應該函數圖形的局部極大值。
4.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,該曲線擬合是依據最小平方法、復線性回歸法、主成分分析法、逐點交叉相關函數法、最小絕對差遞回法或小波轉換法來進行。
5.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,另包含有:
取得第二數據;以及
進行數據處理步驟,以于該第二數據去除噪聲,而取得該第一數據。
6.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,另包含有:
取得第二數據;以及
進行數據處理步驟,以擷取部分的該第二數據,而取得該第一數據。
7.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,另包含有:
取得第二數據;以及
進行數據處理步驟,以將該第二數據歸一化,而取得該第一數據。
8.如權利要求1所述的分析方法,其特征在于,另包含有:
將光源發出的光束導向待測物,以通過測量該待測物被激發的第一熒光信號而取得該第一數據。
9.如權利要求8所述的分析方法,其特征在于,該光源為激光光源,該光源的頻寬小于該至少一基底中的一者的頻寬的十分之一,且頻寬可通過半高全寬來界定。
10.如權利要求8所述的分析方法,其特征在于,該光源為發散角度小于或等于10度的發光二極管光源。
11.如權利要求8所述的分析方法,其特征在于,該待測物進行即時聚合酶鏈式反應。
12.一種分析系統,其特征在于,包含有:
一存儲單元,用來存儲程序碼;以及
一處理單元,用來執行該程序碼,其中,編譯成該程序碼的分析方法包含有:
取得第一數據;以及
依據至少一基底對該第一數據進行曲線擬合,以產生對應該至少一基底的至少一系數,其中,該至少一基底中的一者對應的函數圖形具有不對稱性。
13.如權利要求12所述的分析系統,其特征在于,該第一數據為待測物被激發的第一熒光信號強度與波長的對應關系,該至少一基底中的每一者分別為已知物質被激發的第二熒光信號強度與波長的對應關系。
14.如權利要求12所述的分析系統,其特征在于,該函數圖形于第一波長區間的定積分小于該函數圖形于第二波長區間的定積分,該第一波長區間的積分下界對應該函數圖形的第一局部極小值,該第二波長區間的積分上界對應該函數圖形的第二局部極小值,且該第一波長區間的積分上界與該第二波長區間的積分下界均對應該函數圖形的局部極大值。
15.如權利要求12所述的分析系統,其特征在于,該曲線擬合是依據最小平方法、復線性回歸法、主成分分析法、逐點交叉相關函數法、最小絕對差遞回法或小波轉換法來進行。
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