[發(fā)明專利]一種用于晶圓加工的玻璃載板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010148395.5 | 申請日: | 2020-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN111446194B | 公開(公告)日: | 2023-08-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 嚴立巍;李景賢;陳政勛 | 申請(專利權(quán))人: | 紹興同芯成集成電路有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/673 | 分類號: | H01L21/673;H01L21/677 |
| 代理公司: | 北京同輝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 王依 |
| 地址: | 312000 浙江省紹興市越城區(qū)*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 加工 玻璃 | ||
1.一種用于晶圓加工的玻璃載板,其特征在于,所述玻璃載板中部具有薄化區(qū)域,所述薄化區(qū)域一端面上具有環(huán)形保護玻璃;所述薄化區(qū)域上開設(shè)窗口;
所述玻璃載板的材質(zhì)為無堿硅酸鋁玻璃;
所述薄化區(qū)域通過腐蝕液腐蝕所述玻璃載板一端面后形成,或者通過機械加工對所述玻璃載板一端面進行減料加工而成;
所述薄化區(qū)域處厚度為20~200微米;
所述環(huán)形保護玻璃的外環(huán)半徑與內(nèi)環(huán)半徑的差值為3~10毫米;
所述玻璃載板的搭載晶圓的方法包括以下步驟:將待加工的晶圓貼附在玻璃載板未受到腐蝕或機械加工的端面,此時完成晶圓的搭載;
在搭載完成后,玻璃載板與晶圓綁定在一起,在后續(xù)的晶圓加工過程中,操作者通過環(huán)形保護玻璃間接地載取晶圓,增強了晶圓加工的可操作性;
所述薄化區(qū)域上開設(shè)所述窗口;覆蓋掩膜版、涂抹光阻劑等工序后,即可通過窗口,對晶圓與載板貼合的一面進行加工。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于紹興同芯成集成電路有限公司,未經(jīng)紹興同芯成集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010148395.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





