[發(fā)明專利]放射線成像裝置、圖像處理裝置及方法和存儲介質

在審

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• 申請日: 2020-03-05
• 公開（公告）號: CN111685782A
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發(fā)明（設計）人: 林田真昌;高崎孝
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京怡豐知識產權代理有限公司 11293
• 代理人: 遲軍;李艷麗

1.一種圖像處理裝置，該圖像處理裝置處理從成像傳感器獲得的圖像，成像傳感器具有以矩陣模式布置的多個像素，所述像素包括用于獲得與放射線劑量對應的像素值的第一像素組和用于甚至在用放射線進行照射的情況下獲得偏移值的第二像素組，該裝置包括：

第一校正單元，被配置為基于在沒有用放射線進行照射的情況下通過成像操作從所述多個像素獲得的暗圖像，對在用放射線進行照射的情況下通過成像操作從所述多個像素獲得的放射線圖像執(zhí)行偏移校正；

計算單元，被配置為計算由第一校正單元校正的放射線圖像的從第二像素組獲得的像素值的統(tǒng)計值；以及

第二校正單元，被配置為基于由計算單元獲得的統(tǒng)計值的時間上的變化，對被第一校正單元校正的從第一像素組獲得的像素值進行校正。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中統(tǒng)計值包括從第二像素組獲得的像素值的平均值、中位數值、眾數值和前％值中的至少之一。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中，通過借助于使用加權的計算對先前放射線成像之前獲得的統(tǒng)計值和通過當前放射線成像獲得的統(tǒng)計值進行整合，計算單元執(zhí)行用于獲得由第二校正單元使用的統(tǒng)計值的遞歸處理。

4.根據權利要求3所述的裝置，其中計算單元基于從獲得用于第一校正單元的偏移校正的圖像起所經過的時間來改變加權的權重值。

5.根據權利要求1至4中的任一項所述的裝置，其中第二校正單元執(zhí)行校正，以增加從第一像素組獲得的像素值。

6.根據權利要求5所述的裝置，其中第二校正單元將統(tǒng)計值的絕對值加到從其獲得統(tǒng)計值的從第一像素組獲得的像素值。

7.根據權利要求5所述的裝置，其中，如果統(tǒng)計值大于正閾值，那么第二校正單元從由第一像素組獲得的像素值中減去正閾值，而如果統(tǒng)計值小于負閾值，那么第二校正單元將負閾值的絕對值加到從第一像素組獲得的像素值。

8.根據權利要求1至4中的任一項所述的裝置，還包括確定單元，該確定單元被配置為確定是否執(zhí)行由第二校正單元進行的校正。

9.根據權利要求8所述的裝置，其中，如果從獲得用于第一校正單元的偏移校正的圖像起所經過的時間超過預定值，那么確定單元確定執(zhí)行由第二校正單元進行的校正。

10.根據權利要求8所述的裝置，其中，如果統(tǒng)計值小于預定閾值，那么確定單元確定執(zhí)行由第二校正單元進行的校正。

11.根據權利要求8所述的裝置，其中，如果統(tǒng)計值的絕對值大于預定閾值，那么第二校正單元通過使用預定閾值來執(zhí)行校正，而如果統(tǒng)計值的絕對值不大于預定閾值，那么第二校正單元通過使用統(tǒng)計值來執(zhí)行校正。

12.根據權利要求1至4中的任一項所述的裝置，其中計算單元計算針對第一像素組的每個區(qū)域的統(tǒng)計值，并且基于針對每個區(qū)域的統(tǒng)計值來計算統(tǒng)計值。

13.一種放射線成像裝置，包括：

成像傳感器，具有以矩陣模式布置的多個像素，所述像素包括用于獲得與放射線劑量對應的像素值的第一像素組和用于甚至在用放射線進行照射的情況下獲得偏移值的第二像素組；以及

圖像處理裝置，被配置為處理從成像傳感器獲得的圖像，

其中圖像處理裝置包括：

第一校正單元，被配置為基于在沒有用放射線進行照射的情況下通過成像操作從所述多個像素獲得的暗圖像，對在用放射線進行照射的情況下通過成像操作從所述多個像素獲得的放射線圖像執(zhí)行偏移校正；

計算單元，被配置為計算由第一校正單元校正的放射線圖像的從第二像素組獲得的像素值的統(tǒng)計值；以及

第二校正單元，被配置為基于由計算單元獲得的統(tǒng)計值的時間上的變化，對被第一校正單元校正的從第一像素組獲得的像素值進行校正。