[發(fā)明專利]嵌入式焊盤結(jié)構(gòu)的制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010144754.X | 申請(qǐng)日: | 2020-03-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113363172A | 公開(公告)日: | 2021-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李建財(cái);張傲峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥晶合集成電路股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60;H01L23/488 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
| 地址: | 230012 安徽省合*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 嵌入式 盤結(jié) 制作方法 | ||
本發(fā)明涉及一種嵌入式焊盤結(jié)構(gòu)的制作方法,首先形成第一介質(zhì)層和第一接觸墊在半導(dǎo)體基底的頂部金屬層上,第一接觸墊與頂部金屬層中的第一連接部電接觸,然后形成第二介質(zhì)層和與頂部金屬層中的第二連接部電接觸的導(dǎo)電插塞,接著形成第三介質(zhì)層在第二介質(zhì)層和導(dǎo)電插塞的上表面,并形成第二接觸墊在第三介質(zhì)層中的第三通孔中,使第二接觸墊通過導(dǎo)電插塞與第二連接部電連接,然后形成第四通孔露出第一接觸墊,以第一接觸墊暴露的部分作為內(nèi)焊盤,以第二接觸墊作為外焊盤。該制作方法相較于現(xiàn)有工藝需要執(zhí)行的光刻次數(shù)較少,成本較低。進(jìn)而,形成第三通孔和第四通孔的步驟可以利用激光刻蝕工藝完成,可以進(jìn)一步簡(jiǎn)化工藝。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域,尤其涉及一種嵌入式焊盤結(jié)構(gòu)的制作方法。
背景技術(shù)
利用集成電路制作工藝,可將電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連并集成在半導(dǎo)體基底上從而制作得到芯片。在晶圓上利用集成電路工藝制作芯片時(shí),通常還在芯片上形成焊盤,焊盤用于與外部器件進(jìn)行電性連接。在倒裝式封裝技術(shù)中,在焊盤上會(huì)形成焊料凸點(diǎn)(bump或solderball),在封裝時(shí),晶圓以倒扣方式通過焊料凸點(diǎn)與封裝襯底形成電氣互聯(lián),互聯(lián)長(zhǎng)度大大縮短,不僅有效地提高了電性能,而且封裝尺寸小,可靠性也可以得到提高。
為了滿足芯片設(shè)計(jì)和質(zhì)量要求,現(xiàn)有的一種焊盤結(jié)構(gòu)包括在芯片上形成的內(nèi)焊盤(innerpad)和外焊盤(outerpad),內(nèi)焊盤和外焊盤均通過上方氧化層的開口露出,但內(nèi)焊盤的暴露面的高度明顯低于外焊盤的暴露面的高度。為了制備得到這種焊盤結(jié)構(gòu),現(xiàn)有工藝需要執(zhí)行多次熱沉積工藝以及多次光刻及刻蝕工藝,流程復(fù)雜且成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
為了優(yōu)化焊盤結(jié)構(gòu)的制作工藝,本發(fā)明提供了一種嵌入式焊盤結(jié)構(gòu)的制作方法。
本發(fā)明提供的嵌入式焊盤結(jié)構(gòu)的制作方法包括以下步驟:
提供半導(dǎo)體基底,所述半導(dǎo)體基底具有頂部金屬層,所述頂部金屬層包括在半導(dǎo)體基底表面內(nèi)間隔布置的第一連接部和第二連接部;
形成第一介質(zhì)層和第一接觸墊,所述第一介質(zhì)層覆蓋所述半導(dǎo)體基底、第一連接部和第二連接部,所述第一介質(zhì)層中具有露出所述第一連接部上表面的第一通孔,所述第一接觸墊填滿所述第一通孔并與所述第一連接部電接觸;
形成第二介質(zhì)層和導(dǎo)電插塞,所述第二介質(zhì)層覆蓋所述第一介質(zhì)層和第一接觸墊,形成第二通孔貫穿所述第一介質(zhì)層和第二介質(zhì)層的疊層并露出所述第二連接部上表面,所述導(dǎo)電插塞填滿所述第二通孔并與所述第二連接部電接觸;
形成第三介質(zhì)層在所述第二介質(zhì)層和所述導(dǎo)電插塞的上表面;
形成第三通孔在所述第三介質(zhì)層中,所述第三通孔露出所述導(dǎo)電插塞;
形成第二接觸墊在所述第三通孔中,所述第二接觸墊通過所述導(dǎo)電插塞與所述第二連接部電連接;以及
形成第四通孔貫穿所述第三介質(zhì)層和所述第二介質(zhì)層的疊層并露出所述第一接觸墊,以所述第一接觸墊暴露的部分作為內(nèi)焊盤,以所述第二接觸墊作為外焊盤。
可選的,所述第一接觸墊的上表面高于所述第一介質(zhì)層的上表面,且所述第二介質(zhì)層的上表面高于所述第一接觸墊的上表面。
可選的,形成所述第二介質(zhì)層和所述導(dǎo)電插塞的方法包括:
形成第二介質(zhì)層在所述第一介質(zhì)層和第一接觸墊的上表面;
形成圖形化的第一光阻層在所述第二介質(zhì)層的上表面;
利用所述第一光阻層作為掩模,刻蝕所述第二介質(zhì)層和所述第一介質(zhì)層的疊層,以形成所述第二通孔;
去除所述第一光阻層;
沉積導(dǎo)電材料,以覆蓋所述第二介質(zhì)層上表面并填滿所述第二通孔;以及
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





