[發明專利]攝像模組檢測方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202010144232.X
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN113365045B
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 周婷;茅武超;張寶月;鄭書金;黃君科;鐘柯松
• 申請（專利權）人: 余姚舜宇智能光學技術有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 上海領洋專利代理事務所(普通合伙) 31292
• 代理人: 羅曉飛

1.一種攝像模組檢測方法，其特征在于，包括：

通過待測攝像模組獲取測試標板對應的標板圖像，其中，所述測試標板包括兩平行且相等的標定線的四個標點，按順時針方向分別為第一標點、第二標點、第三標點和第四標點；以及

基于所述標定線的長度、兩所述標定線之間的距離、所述標板圖像中所述第一標點與所述第四標點之間的第一距離和所述第二標點與第三標點之間的第二距離，確定所述待測攝像模組的傾斜量；

其中，當所述待測攝像模組的光學畸變值小于或等于預設閾值時，確定所述待測攝像模組的傾斜量，表示為：

其中，Tilt表示所述待測攝像模組的傾斜量，f表示所述待測攝像模組的有效焦距，L _標表示兩標定線之間的距離，Y₁表示所述第一距離，Y₂表示所述第二距離，H_標表示所述標定線的長度。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其中，當所述待測攝像模組的光學畸變值大于該預設閾值時，確定所述待測攝像模組的傾斜量，表示為：

其中，Tilt表示所述待測攝像模組的傾斜量，dis表示所述待測攝像模組的光學畸變值，f表示所述待測攝像模組的有效焦距，L_標表示兩標定線之間的距離，Y₁表示所述第一距離，Y₂表示所述第二距離，以及，H_標表示所述標定線的長度。

3.根據權利要求1所述的檢測方法，其中，當所述待測攝像模組被實施為包括第一攝像模組和第二攝像模組的陣列攝像模組時，

通過待測陣列攝像模組同時獲取測試標板對應的標板圖像，包括：

通過所述待測攝像模組獲取測試標板的第一標板圖像和第二標板圖像；

基于所述標定線的長度、兩所述標定線之間的距離、所述標板圖像中所述第一標點與所述第四標點之間的第一距離和所述第二標點與第三標點之間的第二距離，確定所述待測攝像模組的傾斜量，包括：

基于所述標定線的長度、兩所述標定線之間的距離、所述第一標板圖像中所述第一標點與所述第四標點之間的第一距離和所述第二標點與第三標點之間的第二距離，確定所述第一攝像模組的第一傾斜量；以及

基于所述標定線的長度、兩所述標定線之間的距離、所述第二標板圖像中所述第一標點與所述第四標點之間的第一距離和所述第二標點與第三標點之間的第二距離，確定所述第二攝像模組的第二傾斜量。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，進一步包括：

基于所述第一傾斜量和所述第二傾斜量，兩傾斜量相減為所述陣列攝像模組沿X、Y和Z軸方向旋轉所形成的夾角。

5.根據權利要求1-2任一所述的檢測方法，其中，所述傾斜量包括所述待測攝像模組在組裝過程中所形成的傾斜量與所述待測攝像模組在擺放以采集測試標板圖像時所形成的傾斜量。

6.根據權利要求1-3任一所述的檢測方法，其中，兩平行且相等的標定線的所述四個標點為矩形的四個端點。

7.一種測試裝置，其特征在于，包括：

標板圖像獲取單元，用于通過待測攝像模組獲取測試標板對應的標板圖像，其中，所述測試標板包括兩平行且相等的標定線的四個標點，按順時針方向分別為第一標點、第二標點、第三標點和第四標點；以及

傾斜量確定單元，用于基于所述標定線的長度、兩所述標定線之間的距離、所述標板圖像中所述第一標點與所述第四標點之間的第一距離和所述第二標點與第三標點之間的第二距離，確定所述待測攝像模組的傾斜量；

其中，當所述待測攝像模組的光學畸變值小于或等于預設閾值時，所述傾斜量確定單元用于確定所述待測攝像模組的傾斜量，表示為：

其中，Tilt表示所述待測攝像模組的傾斜量，f表示所述待測攝像模組的有效焦距，L _標表示兩標定線之間的距離，Y₁表示所述第一距離，Y₂表示所述第二距離，H_標表示所述標定線的長度。