[發明專利]一種光模塊調試裝置及調試方法

在審

• 申請號: 202010134289.1
• 申請日: 2020-03-02
• 公開（公告）號: CN111385023A
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發明（設計）人: 劉雨;姚東
• 申請（專利權）人: 成都優博創通信技術股份有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04B10/60
• 代理公司: 成都為知盾專利代理事務所(特殊普通合伙) 51267
• 代理人: 李漢強

本發明公開了一種光模塊調試裝置及調試方法，該方法包括步驟：建立數學模型，確認APD上加反向電壓Vapd初值在低壓區；在Vapd初值下減小光達到靈敏度測試系統要求的誤碼率范圍；Vapd初值以一定步進增加電壓獲取對應的誤碼率，直到誤碼率大于前面一個點停止；獲取的點二項擬合，對稱軸即接近最佳點，對高速率模塊利用步驟S4結果作為初值重復上述步驟迭代一次；本發明光模塊調試裝置的調試方法可以精確找到Vapd最佳值。不僅可以利用Vbr?X作為初值保證調試精度與效率，還可以脫離Vbr?X束縛自行對初值進行調整兩次擬合迭代到Vapd最佳；通過對相應步驟配置，該方法可滿足使用APD作接收端的各種速率光模塊的調試生產。

技術領域

本發明具體涉及光模塊調試技術領域，特別涉及一種光模塊調試裝置及調試方法。

背景技術

在使用APD作接收端的光模塊生產過程中，設置APD最佳工作點才能保證更多光模塊的收端靈敏度、過載滿足客戶指標要求。通常設置APD最佳工作點與APD的擊穿電壓Vbr緊密相連(Vapd＝Vbr-X)，在現有調試光模塊方法中以Vbr-X作為初值，以一定電壓步進測試靈敏度，無法精確定位最佳電壓，在現有調試光模塊方法中以Vbr-X作為初值，以一定電壓步進先減少電壓測試靈敏度防止APD損壞，測試失敗后再不斷增加電壓測試。由于產品來料每批APD的靈敏度存在差異，一旦Vbr-X偏離經驗值較大，同時APD靈敏度較差，就容易產生不良品，且無法自動維修，在傳統的應用中，如要實現Vapd最佳利用Vbr-X作為初值在電壓[-1,1]內以0.5V輪詢測試；

在測試時，優先測試Vapd低壓時的靈敏度，對于高速率光模塊容易導致靈敏度相對最整體偏低，由于高速率光模塊余量較小，容易產生不良品，一旦某批次Vbr-X比較離散，生產量良率急劇下降。

由于每個APD的靈敏度存在差異，一旦Vbr-X偏離經驗值較大，同時APD靈敏度較差，就容易產生不良品，生產就需要花很多時間去調試最佳提升良率，導致生產效率低下，所以需要另一種精確、高效、通用性強、一致性好的調試方法。

發明內容

本發明的目的在于克服傳統技術中存在的上述問題，提供一種光模塊調試裝置及調試方法。

為實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發明是通過以下技術方案實現：

一種采用APD作為接收端的光模塊調試裝置，包括光模塊組件、靈敏度測試模塊，所述光模塊組件包括微處理器、升壓電壓電路、APD接收器，所述微處理器設置APD_DAC值通過升壓電路，所述升壓電路輸出Vapd電壓至APD接收器從而控制APD增益，所述靈敏度測試模塊通過發端傳輸總碼，再經APD光轉電還原傳輸碼數得到誤碼率，觀測每個Vapd增益下靈敏度系統的誤碼率，建立Vapd與誤碼率的模型得到Vapd值。

光模塊調試裝置的調試方法，包括如下步驟：

步驟S1：對Vapd與誤碼率之間的關系建立數學模型，模型公式：y＝ax²+bx+c，其中y為誤碼率，x為Vapd電壓值，a、b、c為浮點數；

步驟S2：確認APD上加反向電壓Vapd初值在低壓區；

步驟S3：在Vapd初值下減小光達到靈敏度測試系統要求的誤碼率范圍；

步驟S4：Vapd初值以一定步進增加電壓獲取對應的誤碼率，直到誤碼率大于前面一個點停止；

步驟S5：獲取的點二項擬合，對稱軸即接近最佳點，對高速率模塊利用步驟S4結果作為初值重復步驟S1、步驟S2、步驟S3、步驟S4迭代一次。

進一步地，APD上加反向電壓Vapd初值為廠家提供的的典型值再去判斷是否在低壓區，防止APD器件損傷。

進一步地，所述步驟S3中要求誤碼率范圍根據模塊類型不同進行調整。