[發明專利]一種光模塊調試裝置及調試方法

在審

• 申請號: 202010134289.1
• 申請日: 2020-03-02
• 公開（公告）號: CN111385023A
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發明（設計）人: 劉雨;姚東
• 申請（專利權）人: 成都優博創通信技術股份有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04B10/60
• 代理公司: 成都為知盾專利代理事務所(特殊普通合伙) 51267
• 代理人: 李漢強

1.一種采用APD作為接收端的光模塊調試裝置，其特征在于：包括光模塊組件(1)、靈敏度測試模塊(2)，所述光模塊組件(1)包括微處理器(101)、升壓電壓電路(102)、APD接收器(103)，所述微處理器(1)設置APD_DAC值通過升壓電路(102)，所述升壓電路(102)輸出Vapd電壓至APD接收器(103)從而控制APD增益，所述靈敏度測試模塊(2)通過發端傳輸總碼，再經APD光轉電還原傳輸碼數得到誤碼率，觀測每個Vapd增益下靈敏度系統的誤碼率，建立Vapd與誤碼率的模型得到Vapd值。

2.一種如權利要求1所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟S1：對Vapd與誤碼率之間的關系建立數學模型，模型公式：y＝ax²+bx+c，其中y為誤碼率，x為Vapd電壓值，a、b、c為浮點數；

步驟S2：確認APD上加反向電壓Vapd初值在低壓區；

步驟S3：在Vapd初值下減小光達到靈敏度測試系統要求的誤碼率范圍；

步驟S4：Vapd初值以一定步進增加電壓獲取對應的誤碼率，直到誤碼率大于前面一個點停止；

步驟S5：獲取的點二項擬合，對稱軸Vapd＝-b/2a即接近最佳點，對高速率模塊利用步驟S4結果作為初值重復步驟S1、步驟S2、步驟S3、步驟S4迭代一次。

3.按照權利要求2所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于：Vapd＝-b/2a。

4.按照權利要求2所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于：步驟S2中，APD上加反向電壓Vapd初值為廠家提供的的典型值再去判斷是否在低壓區，防止APD器件損傷。

5.按照權利要求2所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于：所述步驟S3中要求誤碼率范圍根據模塊類型不同進行調整。

6.按照權利要求2所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于：步驟S3中，模塊類型無法到達誤碼率范圍，則修改測試速率以達到誤碼率范圍。

7.按照權利要求2所述光模塊調試裝置的調試方法，其特征在于：步驟S4中，取點結束條件根據停止時低壓區數據量添加高壓區數據，保證擬合結果準確。