[發明專利]缺陷檢測識別方法、裝置、計算機可讀介質及電子設備

有效

• 申請號: 202010131234.5
• 申請日: 2020-02-28
• 公開（公告）號: CN111353983B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 石康
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/187
• 代理公司: 深圳市聯鼎知識產權代理有限公司 44232
• 代理人: 王鵬健

1.一種缺陷檢測識別方法，其特征在于，包括：

獲取目標產品圖像；

將所述目標產品圖像與所述目標產品圖像對應的模板圖像進行匹配處理，得到所述目標產品圖像的第一缺陷圖；

通過神經網絡模型對所述目標產品圖像進行缺陷檢測處理，得到所述目標產品圖像對應的第二缺陷圖；

結合所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖，識別所述目標產品圖像中所包含的缺陷；

根據所述目標產品圖像中所包含的缺陷，標識出所述目標產品圖像中的缺陷連通區域；

根據所述缺陷連通區域的前景圖和所述目標產品圖像中所包含的指定元件的前景圖，構建所述指定元件對應的相交矩陣，所述相交矩陣用于表示所述指定元件與所述缺陷連通區域在視覺上的重疊程度；

基于所述指定元件與所述缺陷連通區域在視覺上的重疊程度，確定所述目標產品圖像中是否存在斷線，或確定所述目標產品圖像中是否存在短路；

其中，確定所述目標產品圖像中是否存在短路，包括：

對所述目標產品圖像中的第一元件對應的相交矩陣和第二元件對應的相交矩陣的轉置進行求積運算，得到目標矩陣；

計算所述目標矩陣所包含的各個元素的和值；

若所述第一元件對應的相交矩陣和所述第二元件對應的相交矩陣不相同，則在所述目標矩陣所包含的各個元素的和值為0的情況下，確定所述目標產品圖像中不存在短路。

2.根據權利要求1所述的缺陷檢測識別方法，其特征在于，結合所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖，識別所述目標產品圖像中所包含的缺陷，包括：

若所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖中僅有一個缺陷圖中包含有缺陷，則根據包含有缺陷的缺陷圖確定所述目標產品圖像中所包含的缺陷；

若所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖中均包含有缺陷，則根據所述第一缺陷圖或所述第二缺陷圖確定所述目標產品圖像中所包含的缺陷；

若所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖中均不包含缺陷，則確定所述目標產品圖像中不包含有缺陷。

3.根據權利要求1所述的缺陷檢測識別方法，其特征在于，結合所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖，識別所述目標產品圖像中所包含的缺陷，包括：

將所述第一缺陷圖和所述第二缺陷圖進行疊加，生成組合缺陷圖；

若所述組合缺陷圖中包含有缺陷，則根據所述組合缺陷圖確定所述目標產品圖像中所包含的缺陷；

若所述組合缺陷圖中不包含缺陷，則確定所述目標產品圖像中不包含有缺陷。

4.根據權利要求1所述的缺陷檢測識別方法，其特征在于，所述相交矩陣中的元素表示如下：

其中，A_ij表示第j個缺陷連通區域與所述指定元件的第i個實例在視覺上的重疊程度；S_i表示所述指定元件的第i個實例的前景圖；S_j表示第j個缺陷連通區域的前景圖。

5.根據權利要求4所述的缺陷檢測識別方法，其特征在于，確定所述目標產品圖像中是否存在斷線，包括：

針對所述指定元件的第i個實例，對所述相交矩陣的行元素進行求和，若所述行元素的和值大于或等于設定值，則確定所述第i個實例存在斷線；或者

針對第j個缺陷連通區域，對所述相交矩陣的列元素進行求和，若所述列元素的和值大于或等于設定值，則確定所述指定元件的實例在所述第j個缺陷連通區域存在斷線；或者

若所述指定元件的第i個實例與第j個缺陷連通區域在視覺上的重疊程度大于或等于設定值，則確定所述第i個實例在所述第j個缺陷連通區域處存在斷線。

6.根據權利要求1所述的缺陷檢測識別方法，其特征在于，還包括：

若所述第一元件對應的相交矩陣和所述第二元件對應的相交矩陣相同，則計算所述目標矩陣所包含的各個元素的和值與所述目標矩陣的跡之間的差值；

在所述差值為0的情況下，確定所述目標產品圖像中不存在短路。