[發(fā)明專利]產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法、裝置、產(chǎn)品監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010127189.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111369509B | 公開(公告)日: | 2021-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周俊杰;謝盛珍;杜兵;馮英俊;杜義賢 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東利元亨智能裝備股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/80 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 王立紅 |
| 地址: | 516000 廣東省惠州市惠*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 產(chǎn)品 檢測(cè) 補(bǔ)償 方法 裝置 監(jiān)測(cè) 系統(tǒng) 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法、裝置、產(chǎn)品監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),該產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法包括:在產(chǎn)品卷繞過程中,獲取視覺檢測(cè)設(shè)備在固定視野下對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行圖像采集得到的第一采集圖像;根據(jù)該第一采集圖像得到該目標(biāo)產(chǎn)品的間距參數(shù),作為該目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層下對(duì)于卷繞材料的檢測(cè)數(shù)據(jù),該間距參數(shù)用于表示各層的卷繞材料與選定的參考位置之間的間隙;根據(jù)在采集該第一采集圖像時(shí)對(duì)應(yīng)的該目標(biāo)產(chǎn)品的當(dāng)前層數(shù),確定該目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù);根據(jù)該目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù),對(duì)該目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層下對(duì)應(yīng)的該卷繞材料的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn),得到該目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的檢測(cè)結(jié)果。以此可以改善現(xiàn)有技術(shù)中的產(chǎn)品檢測(cè)精度較低的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及加工檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法、裝置、產(chǎn)品監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
對(duì)于卷繞形成的產(chǎn)品,為了提升產(chǎn)品的加工質(zhì)量,通常會(huì)對(duì)卷繞過程中的一些產(chǎn)品參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),以便于進(jìn)行加工調(diào)整。
但是,對(duì)于借助固定視野進(jìn)行圖像采集從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的做法,容易隨著產(chǎn)品卷繞過程的推進(jìn)出現(xiàn)聚焦不清晰問題,從而影響對(duì)于產(chǎn)品的檢測(cè)精度。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)實(shí)施例的目的在于提供一種產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法、裝置、產(chǎn)品監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),用以改善現(xiàn)有技術(shù)中的產(chǎn)品檢測(cè)精度較低的問題。
第一方面,實(shí)施例提供一種產(chǎn)品的檢測(cè)補(bǔ)償方法,所述方法包括:
在產(chǎn)品卷繞過程中,獲取視覺檢測(cè)設(shè)備在固定視野下對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行圖像采集得到的第一采集圖像;
根據(jù)所述第一采集圖像得到所述目標(biāo)產(chǎn)品的間距參數(shù),作為所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層下對(duì)于卷繞材料的檢測(cè)數(shù)據(jù),所述間距參數(shù)用于表示各層的卷繞材料與選定的參考位置之間的間隙;
根據(jù)在采集所述第一采集圖像時(shí)對(duì)應(yīng)的所述目標(biāo)產(chǎn)品的當(dāng)前層數(shù),確定所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù);
根據(jù)所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù),對(duì)所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層下對(duì)應(yīng)的所述卷繞材料的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn),得到所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的檢測(cè)結(jié)果。
在上述方法中,通過在產(chǎn)品的卷繞過程中,以固定視野對(duì)產(chǎn)品的各層進(jìn)行圖像采集,從而根據(jù)采集的第一采集圖像得到目標(biāo)產(chǎn)品在各層的初步檢測(cè)數(shù)據(jù),然后根據(jù)目標(biāo)產(chǎn)品的各個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的層數(shù),對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品在各層狀態(tài)下關(guān)于卷繞材料的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn),得到檢測(cè)精度較高的檢測(cè)結(jié)果。以此可以使得即使隨著卷繞過程的推進(jìn),包圍在卷軸外表面的卷繞材料越來越多,目標(biāo)產(chǎn)品的厚度隨之改變而造成了聚焦不清晰現(xiàn)象,也能夠根據(jù)目標(biāo)產(chǎn)品的層數(shù)對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行有效補(bǔ)償,從而降低因聚焦問題對(duì)測(cè)量精度造成的影響,提升整體的檢測(cè)準(zhǔn)確性。
在可選的實(shí)施方式中,所述確定所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù),包括:
通過預(yù)先計(jì)算出的補(bǔ)償表達(dá)式以及所述目標(biāo)產(chǎn)品的當(dāng)前層數(shù),確定所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
通過上述實(shí)現(xiàn)方式,可以在產(chǎn)品的實(shí)時(shí)卷繞檢測(cè)過程中,確定出每一層的測(cè)量偏差量,從而對(duì)每層的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償修正,提升最終的檢測(cè)精度。
在可選的實(shí)施方式中,在所述通過預(yù)先計(jì)算出的補(bǔ)償表達(dá)式以及所述目標(biāo)產(chǎn)品的當(dāng)前層數(shù),確定所述目標(biāo)產(chǎn)品在當(dāng)前層的補(bǔ)償數(shù)據(jù)之前,所述方法還包括:
獲取卷繞測(cè)試產(chǎn)品的多組測(cè)量偏差數(shù)據(jù),所述多組測(cè)量偏差數(shù)據(jù)中的每組數(shù)據(jù)包括偏差量以及所述偏差量對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品層數(shù);
基于所述多組測(cè)量偏差數(shù)據(jù)中的每個(gè)偏差量以及每個(gè)偏差量對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品層數(shù),擬合計(jì)算得到所述補(bǔ)償表達(dá)式。
通過上述實(shí)現(xiàn)方式,可以得出因產(chǎn)品厚度變化所帶來的測(cè)量偏差規(guī)律,然后基于確定出的偏差規(guī)律對(duì)產(chǎn)品卷繞過程中得到的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行有效補(bǔ)償,從而提升檢測(cè)精度。
在可選的實(shí)施方式中,所述獲取卷繞測(cè)試產(chǎn)品的多組測(cè)量偏差數(shù)據(jù),包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東利元亨智能裝備股份有限公司,未經(jīng)廣東利元亨智能裝備股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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