[發明專利]圖像檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010125645.3
• 申請日: 2020-02-27
• 公開（公告）號: CN111275703B
• 公開（公告）日: 2023-10-27
• 發明（設計）人: 晏陽天;吳賢;葛屾;王鍇;范偉
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

1.一種圖像檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測圖像；

對所述待檢測圖像中的皮損部位進行定位，利用定位后的皮損部位生成與檢測維度對應的掩膜圖；

將所述待檢測圖像輸入檢測模型，通過所述檢測模型中的多個卷積組層進行運算，得到與所述檢測維度對應的皮損特征信息圖；

利用所述檢測模型中的檢測子網絡對所述皮損特征信息圖與所述掩膜圖進行融合，計算得到各個檢測維度對應的檢測分數；

通過所述檢測模型的全連接層對所述各個檢測維度的檢測分數進行疊加操作，輸出與所述待預測圖像對應的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用定位后的皮損部位生成與檢測維度對應的掩膜圖包括：

獲取所述皮損部位對應的定位框；所述定位框中包括中心點和其他點；

獲取所述中心點的像素值，根據所述中心點的像素值計算所述定位框中其他點的像素值；

利用每個定位框中所述中心點的像素值與所述其他點的像素值生成與所述待檢測圖像對應的掩膜圖。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述據所述中心點的像素值計算所述定位框中其他點的像素值包括：

獲取所述中心點的坐標以及所述其他點的坐標；

根據所述中心的坐標、像素值與所述其他點的坐標進行高斯核遞減，得到所述定位框中其他點的像素值。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述待檢測圖像輸入檢測模型，通過所述檢測模型中的多個卷積組層進行運算，得到與所述檢測維度對應的皮損特征信息圖包括：

通過所述檢測模型中的卷積層、池化層、多個卷積組層對所述待檢測圖像進行深度卷積運算，提取與所述卷積組層對應的皮損特征信息；

獲取與所述卷積組層對應的檢測維度；

利用下一個卷積組層對應的皮損特征信息對上一個卷積組層對應的皮損特征信息進行反饋，生成與各個檢測維度對應的皮損特征信息圖。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述利用下一個卷積組層對應的皮損特征信息對上一個卷積組層對應的皮損特征信息進行反饋包括：

對所述下一個卷積組層對應的皮損特征信息進行上采樣；

利用上采樣后的皮損特征信息與所述上一個卷積組層對應的皮損特征信息進行疊加，生成與檢測維度對應的皮損特征信息圖。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述檢測模型中的檢測子網絡對所述皮損特征信息圖與所述掩膜圖進行融合，計算得到各個檢測維度對應的檢測分數包括：

根據所述檢測維度加載對應的掩膜圖與皮損特征信息圖，將所述掩膜圖與所述皮損特征信息圖相乘，得到所述檢測子網絡的輸入向量；

通過所述檢測子網絡將所述輸入向量經過多個卷積層以及疊加層，得到疊加后的皮損特征信息圖；

通過所述檢測子網絡將所述輸入向量經過SE Block層，得到對應的特征系數；

通過對所述疊加后的皮損特征信息圖與所述特征系數進行仿式變換，輸出與所述檢測維度對應的分數。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述通過對所述疊加后的皮損特征信息圖與所述特征系數進行仿式變換，輸出與所述檢測維度對應的分數包括：

獲取與所述待檢測圖像對應的多個預設策略及策略權值；

通過所述疊加后的皮損特征信息圖與所述特征系數進行多次仿式變換，根據所述預設策略得到對應的策略分數；

利用所述策略分數與所述策略權值進行累加，生成與所述檢測維度對應的分數。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述掩膜圖與所述皮損特征信息圖的尺寸相同。