[發明專利]量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統

有效

• 申請號: 202010123222.8
• 申請日: 2020-02-27
• 公開（公告）號: CN111289809B
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 黃榮書;葉柏榕;蘇勝義;喬鴻培;李子勝;蔡憲毅;吳俞宏;邱宗文
• 申請（專利權）人: 佳思科技有限公司;揚博科技股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京戈程知識產權代理有限公司 11314
• 代理人: 程偉;王錦陽

1.一種量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，包括：

一微波暗室，其包括一地板及一面對該地板的頂板，該頂板包括一射頻窗戶；

一射頻量測設備；

一饋源天線，其設置于微波暗室內；

一芯片吸取裝置，以吸力取放及移動一封裝天線；及

一封裝測試基座，包括能夠相接合或分開的一第一基座部及一第二基座部，該第一基座部固定地設置在該微波暗室的頂板上方，該第一基座部呈一環狀并界定出一第一通孔，該第一通孔與該射頻窗戶在該地板的法線方向上相重疊，該第二基座部界定出一第二通孔，該芯片吸取裝置穿伸過該第二基座部的第二通孔，該芯片吸取裝置與該第二基座部連動，當該第二基座部與該第一基座部相接合時，該射頻量測設備通過該第一基座部與該第二基座部電連接該封裝天線以量測該封裝天線的一射頻傳導特性參數，并且，該射頻量測設備還電連接該饋源天線以量測該封裝天線的一輻射特性參數，此外，當該饋源天線及該封裝天線的其中一者作為發射天線時，另一者對應地作為接收天線；

其中，該第一基座部包括一第一探針，該第二基座部包括一第一轉接板及一第二探針，該第一轉接板包括一第一傳輸線，該第一傳輸線的其中一端與該第二探針恒保持實體接觸而電連接，而當該第二基座部與該第一基座部相接合時，該第一傳輸線的另一端與該第一探針的實體接觸而電連接。

2.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，其中，該第二基座部圍繞界定出一接合凹槽，該接合凹槽供容置該第一基座部，該接合凹槽供該第二基座部活動地與該第一基座部相接合或分開。

3.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，其中，該第一基座部還包括一第三探針，該第二基座部還包括一第二轉接板及一第四探針，該第二轉接板包括一第二傳輸線，該第二傳輸線的其中一端與該第四探針恒保持實體接觸而電連接，而當該第二基座部與該第一基座部相接合時，該第二傳輸線的另一端與該第三探針實體接觸而電連接。

4.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，該綜合系統還包括一測試載板，該測試載板設置于該第一基座部與該微波暗室的頂板之間，且該測試載板包括一第三傳輸線及一第四傳輸線，該第三傳輸線電連接于該射頻量測設備與該饋源天線之間，該第四傳輸線電連接于該射頻量測設備與該第一探針之間。

5.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，該綜合系統還包括一反射鏡，該反射鏡設置在該微波暗室內的地板上，該反射鏡將來自該饋源天線的一非均勻平面波反射成朝向該射頻窗戶的一均勻平面波。

6.如權利要求5所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，其中，該反射鏡能夠轉動。

7.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，其中，該饋源天線是波束能夠控制的陣列天線。

8.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，該綜合系統還包括設置在該第一基座部上方的一基頻量測設備，當該第二基座部與該第一基座部相接合時，該基頻量測設備通過該第一基座部與該第二基座部電連接該封裝天線以量測該封裝天線的基頻特性參數。

9.如權利要求1所述的量測封裝天線的傳導及輻射特性的綜合系統，其中，該第二基座部及該芯片吸取裝置安裝在一機械手臂，該機械手臂用以抓取移動該第二基座部及該芯片吸取裝置。