[發明專利]一種光學測試系統

在審

• 申請號: 202010122042.8
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN111239066A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 張順起;陳建強;劉愛江;陳澤海
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/59
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李飛

本申請實施例提供一種光學測試系統，涉及光學測試技術領域。該光學測試系統包括聚焦透鏡、雙開口積分球和第一光譜儀，所述聚焦透鏡設置于所述雙開口積分球前方，用于聚焦預設光；所述雙開口積分球設置有上開口和下開口，所述雙開口積分球的上開口與所述聚焦透鏡相對，所述雙開口積分球的下開口設置于所述聚焦透鏡和所述雙開口積分球的上開口的延長線上；所述第一光譜儀與所述雙開口積分球連接，用于收集所述雙開口積分球的數據，并測量測試樣品的透射率或反射率。該光學測試系統可以實現保證測試速度和測試精度的同時簡化結構，減小設備體積的技術效果。

技術領域

本申請涉及光學測試技術領域，具體而言，涉及一種光學測試系統。

背景技術

目前，在自動化光學檢測設備領域中，單獨的透過率測試和反射率測試技術已經比較成熟，可對不同的介質材料測量在不同環境下的透反射數值，也可用多種角度的入射光進行介質的多角度透反射測量；而采取透反射率同測，可進一步的提高測試速度，且對于自動化設備來講，可節省很大一部分占用空間，節省制作成本。現有市面上的透反射同時測試儀器的體積仍然較大，且結構復雜，在空間占用及對樣品測試方式上產生了很大的局限性。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種光學測試系統，該光學測試系統可以實現保證測試速度和測試精度的同時簡化結構，減小設備體積的技術效果。

本申請實施例提供了一種光學測試系統，包括聚焦透鏡、雙開口積分球和第一光譜儀，所述聚焦透鏡設置于所述雙開口積分球前方，用于聚焦預設光；所述雙開口積分球設置有上開口和下開口，所述雙開口積分球的上開口與所述聚焦透鏡相對，所述雙開口積分球的下開口設置于所述聚焦透鏡和所述雙開口積分球的上開口的延長線上；所述第一光譜儀與所述雙開口積分球連接，用于收集所述雙開口積分球的數據，并測量測試樣品的透射率或反射率。

在上述實現過程中，單獨的透過率測試和反射率測試技術已經比較成熟，可對不同的介質材料測量在不同環境下的透反射數值，也可用多種角度的入射光進行介質的多角度透反射測量；而采取透反射率同測，可進一步的提高測試速度，且對于自動化設備來講，可節省很大一部分占用空間，節省制作成本。現有市面上的透反射同時測試儀器的體積仍然較大，且結構復雜，在空間占用及對樣品測試方式上產生了很大的局限性。

進一步地，所述測試樣品設置于所述雙開口積分球的上開口，所述雙開口積分球的下開口關閉，所述預設光透過所述測試樣品照射在所述雙開口積分球內，所述第一光譜儀測量所述測試樣品的透射率。

在上述實現過程中，測試樣品設置于雙開口積分球的上開口，且此時雙開口積分球的下開口關閉；因此，預設光從聚焦透鏡出射后，照射到測試樣品的表面上，再透過測試樣品并進入雙開口積分球的內部，第一光譜儀在收集雙開口積分球的數據后，即可測量測試樣品的透射率。

進一步地，所述測試樣品設置于所述雙開口積分球的下開口，所述預設光經過所述雙開口積分球的上開口照射所述測試樣品，并經所述測試樣品反射在所述雙開口積分球內，所述第一光譜儀測量所述測試樣品的反射率。

在上述實現過程中，測試樣品設置于雙開口積分球的下開口，且此時雙開口積分球的上開口開通；因此，預設光從聚焦透鏡出射后，經過雙開口積分球的上開口，再照射到測試樣品的表面，然后經過測試樣品的表面反射后，由雙開口積分球的內壁收集；從而，第一光譜儀在收集雙開口積分球的數據后，即可測量測試樣品的反射率。

進一步地，所述系統還包括單開口積分球和第二光譜儀，所述單開口積分球設置于所述雙開口積分球的下方，所述單開口積分球的開口設置于所述雙開口積分球的上開口和下開口的延長線上；所述第二光譜儀與所述單開口積分球連接，用于收集所述單開口積分球的數據，并測量所述測試樣品的透射率。

在上述實現過程中，通過增加單開口積分球和第二光譜儀，可以使該系統可以同時測量測試樣品的反射率和透射率，從而極大地提高該光學測試系統的測試效率。