[發(fā)明專利]一種光學測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010122042.8
• 申請日: 2020-02-26
• 公開（公告）號: CN111239066A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張順起;陳建強;劉愛江;陳澤海
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/59
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李飛

1.一種光學測試系統(tǒng)，其特征在于，包括聚焦透鏡、雙開口積分球和第一光譜儀，

所述聚焦透鏡設(shè)置于所述雙開口積分球前方，用于聚焦預(yù)設(shè)光；

所述雙開口積分球設(shè)置有上開口和下開口，所述雙開口積分球的上開口與所述聚焦透鏡相對，所述雙開口積分球的下開口設(shè)置于所述聚焦透鏡和所述雙開口積分球的上開口的延長線上；

所述第一光譜儀與所述雙開口積分球連接，用于收集所述雙開口積分球的數(shù)據(jù)，并測量測試樣品的透射率或反射率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試樣品設(shè)置于所述雙開口積分球的上開口，所述雙開口積分球的下開口關(guān)閉，所述預(yù)設(shè)光透過所述測試樣品照射在所述雙開口積分球內(nèi)，所述第一光譜儀測量所述測試樣品的透射率。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試樣品設(shè)置于所述雙開口積分球的下開口，所述預(yù)設(shè)光經(jīng)過所述雙開口積分球的上開口照射所述測試樣品，并經(jīng)所述測試樣品反射在所述雙開口積分球內(nèi)，所述第一光譜儀測量所述測試樣品的反射率。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括單開口積分球和第二光譜儀，

所述單開口積分球設(shè)置于所述雙開口積分球的下方，所述單開口積分球的開口設(shè)置于所述雙開口積分球的上開口和下開口的延長線上；

所述第二光譜儀與所述單開口積分球連接，用于收集所述單開口積分球的數(shù)據(jù)，并測量所述測試樣品的透射率。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試樣品設(shè)置于所述雙開口積分球的下開口和所述單開口積分球的開口之間，所述預(yù)設(shè)光透過所述測試樣品照射在所述單開口積分球內(nèi)，所述第二光譜儀測量所述測試樣品的透射率。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括光源，所述光源用于提供所述預(yù)設(shè)光。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括光纖，所述光纖與所述光源連接，用于傳輸所述預(yù)設(shè)光至所述聚焦透鏡上。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括光闌，所述光闌設(shè)置于所述聚焦透鏡和所述雙開口積分球的上開口之間。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括反射板，所述反射板可設(shè)置于所述雙開口積分球的上開口或下開口，用于提供測量所述測試樣品的反射率或透射率時的亮參考數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括電源，所述電源用于給所述第一光譜儀供電。