[發(fā)明專利]一種測試方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2020-02-21
• 公開（公告）號: CN111338943A
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 林曉升;郭建強;楊萍
• 申請（專利權(quán)）人: 北京字節(jié)跳動網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京中知法苑知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11226
• 代理人: 李明;趙吉陽

本申請涉及一種測試方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，通過獲取待測試軟件開發(fā)工具包SDK的各個接口函數(shù)，并分別為各個接口函數(shù)對應(yīng)的至少兩個算法參數(shù)分配參數(shù)值，得到算法參數(shù)對應(yīng)的鍵值對，考慮到在進行SDK的測試時，作為影響因素的算法參數(shù)的參數(shù)值較多，通過將得到的多個鍵值對進行組合處理，得到覆蓋該多個鍵值對的多個場景測試用例，這樣，不僅可以實現(xiàn)場景測試用例的自動生成，而且由于將不同算法參數(shù)的參數(shù)值進行組合處理，可以顯著降低場景測試用例的數(shù)量，進一步地，通過生成的場景測試用例，對待測試軟件開發(fā)工具包進行測試，可以提前預(yù)防線上崩潰和算法異常，以降低實際線上對SDK進行測試所花費的時間成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測試方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

軟件開發(fā)工具包(Software Development Kit，SDK)一般是指軟件工程師為特定的軟件包、軟件框架、硬件平臺、操作系統(tǒng)等建立應(yīng)用軟件時的開發(fā)工具的集合，它提供一套有一定結(jié)構(gòu)和邏輯的對外開發(fā)接口，封裝對內(nèi)的業(yè)務(wù)邏輯，調(diào)用者只需按說明文檔使用相應(yīng)的對外開發(fā)接口就可以實現(xiàn)預(yù)期的功能，簡化了軟件開發(fā)流程，提高了軟件開發(fā)速度，并在一定程度上能保證了軟件的質(zhì)量。

通常，在SDK交付使用前，需要對其進行測試，以保證軟件的質(zhì)量，但在測試時，會由于SDK發(fā)生線上崩潰和算法異常時，需要修復(fù)的周期長，而且問題難復(fù)現(xiàn)的問題，導(dǎo)致測試所花費的時間成本較高。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請實施例至少提供一種測試方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，可以提前預(yù)防線上崩潰和算法異常，以降低實際線上對SDK進行測試所花費的時間成本。

本申請主要包括以下幾個方面：

第一方面，本申請實施例提供一種測試方法，所述測試方法包括：

獲取待測試軟件開發(fā)工具包的各個接口函數(shù)，以及所述接口函數(shù)對應(yīng)的算法參數(shù)；

針對所述接口函數(shù)對應(yīng)的算法參數(shù)中的至少兩個算法參數(shù)，根據(jù)每個所述算法參數(shù)對應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對應(yīng)的參數(shù)值，得到所述至少兩個算法參數(shù)各自對應(yīng)的鍵值對；每個鍵值對包含算法參數(shù)的參數(shù)標識和該算法參數(shù)的一個參數(shù)值；

將得到的多個鍵值對進行組合處理，得到覆蓋所述多個鍵值對的多個場景測試用例；其中，每個場景測試用例中包含至少兩個鍵值對，且該至少兩個鍵值對中的參數(shù)標識不同；

基于多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發(fā)工具包進行測試。

在一種可能的實施方式中，所述針對所述接口函數(shù)對應(yīng)的算法參數(shù)中的至少兩個算法參數(shù)，根據(jù)每個所述算法參數(shù)對應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對應(yīng)的參數(shù)值，得到所述至少兩個算法參數(shù)各自對應(yīng)的鍵值對，包括：

從所述接口函數(shù)對應(yīng)的算法參數(shù)中，篩選出對所述待測試軟件工具開發(fā)包的功能影響程度排序靠前的至少兩個算法參數(shù)；

針對篩選的所述至少兩個算法參數(shù)，根據(jù)每個所述算法參數(shù)對應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對應(yīng)的參數(shù)值，得到篩選的所述至少兩個算法參數(shù)各自對應(yīng)的鍵值對。

在一種可能的實施方式中，所述基于多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發(fā)工具包進行測試，包括：

獲取所述待測試軟件開發(fā)工具包中定義的各個接口函數(shù)的執(zhí)行順序，以及各個接口函數(shù)之間的調(diào)用關(guān)系；

按照所述執(zhí)行順序和所述調(diào)用關(guān)系，依次通過多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發(fā)工具包進行測試。

在一種可能的實施方式中，針對任一個所述場景測試用例，通過所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發(fā)工具包進行測試，包括：