[發(fā)明專利]一種測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010108648.6
• 申請(qǐng)日: 2020-02-21
• 公開（公告）號(hào): CN111338943A
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林曉升;郭建強(qiáng);楊萍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京字節(jié)跳動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京中知法苑知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11226
• 代理人: 李明;趙吉陽

1.一種測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

獲取待測(cè)試軟件開發(fā)工具包的各個(gè)接口函數(shù)，以及所述接口函數(shù)對(duì)應(yīng)的算法參數(shù)；

針對(duì)所述接口函數(shù)對(duì)應(yīng)的算法參數(shù)中的至少兩個(gè)算法參數(shù)，根據(jù)每個(gè)所述算法參數(shù)對(duì)應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對(duì)應(yīng)的參數(shù)值，得到所述至少兩個(gè)算法參數(shù)各自對(duì)應(yīng)的鍵值對(duì)；每個(gè)鍵值對(duì)包含算法參數(shù)的參數(shù)標(biāo)識(shí)和該算法參數(shù)的一個(gè)參數(shù)值；

將得到的多個(gè)鍵值對(duì)進(jìn)行組合處理，得到覆蓋所述多個(gè)鍵值對(duì)的多個(gè)場(chǎng)景測(cè)試用例；其中，每個(gè)場(chǎng)景測(cè)試用例中包含至少兩個(gè)鍵值對(duì)，且該至少兩個(gè)鍵值對(duì)中的參數(shù)標(biāo)識(shí)不同；

基于多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述針對(duì)所述接口函數(shù)對(duì)應(yīng)的算法參數(shù)中的至少兩個(gè)算法參數(shù)，根據(jù)每個(gè)所述算法參數(shù)對(duì)應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對(duì)應(yīng)的參數(shù)值，得到所述至少兩個(gè)算法參數(shù)各自對(duì)應(yīng)的鍵值對(duì)，包括：

從所述接口函數(shù)對(duì)應(yīng)的算法參數(shù)中，篩選出對(duì)所述待測(cè)試軟件工具開發(fā)包的功能影響程度排序靠前的至少兩個(gè)算法參數(shù)；

針對(duì)篩選的所述至少兩個(gè)算法參數(shù)，根據(jù)每個(gè)所述算法參數(shù)對(duì)應(yīng)的參數(shù)取值范圍，為所述算法參數(shù)分配對(duì)應(yīng)的參數(shù)值，得到篩選的所述至少兩個(gè)算法參數(shù)各自對(duì)應(yīng)的鍵值對(duì)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述基于多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試，包括：

獲取所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包中定義的各個(gè)接口函數(shù)的執(zhí)行順序，以及各個(gè)接口函數(shù)之間的調(diào)用關(guān)系；

按照所述執(zhí)行順序和所述調(diào)用關(guān)系，依次通過多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試方法，其特征在于，針對(duì)任一個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例，通過所述場(chǎng)景測(cè)試用例，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試，包括：

調(diào)用與所述場(chǎng)景測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的測(cè)試算法，將所述場(chǎng)景測(cè)試用例中的算法參數(shù)的參數(shù)值，輸入至所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包的接口函數(shù)的算法參數(shù)中，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試；不同的測(cè)試算法對(duì)應(yīng)的測(cè)試功能不同。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試算法包括用于匹配以下至少一種場(chǎng)景測(cè)試用例的算法：

預(yù)先定義的通用測(cè)試的場(chǎng)景測(cè)試用例；

包含算法模型的全部算法參數(shù)的場(chǎng)景測(cè)試用例；

包含所述算法模型的部分算法參數(shù)的場(chǎng)景測(cè)試用例；

其中，所述算法模型與所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具相匹配。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，在所述基于多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例，對(duì)所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包進(jìn)行測(cè)試之后，所述測(cè)試方法還包括：

生成多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果；

從多個(gè)所述場(chǎng)景測(cè)試用例中，確定測(cè)試結(jié)果為測(cè)試出錯(cuò)的所述場(chǎng)景測(cè)試用例；

根據(jù)測(cè)試出錯(cuò)的所述場(chǎng)景測(cè)試用例，生成測(cè)試報(bào)告。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)測(cè)試出錯(cuò)的所述場(chǎng)景測(cè)試用例，生成測(cè)試報(bào)告，包括：

從測(cè)試出錯(cuò)的所述場(chǎng)景測(cè)試用例中，確定共同攜帶的所述算法參數(shù)的參數(shù)值；

將確定出的所述算法參數(shù)的參數(shù)值，確定為導(dǎo)致所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包運(yùn)行異常的異常值；

根據(jù)導(dǎo)致所述待測(cè)試軟件開發(fā)工具包運(yùn)行異常的異常值，生成所述測(cè)試報(bào)告。