[發明專利]一種測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010108648.6
• 申請日: 2020-02-21
• 公開（公告）號: CN111338943A
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 林曉升;郭建強;楊萍
• 申請（專利權）人: 北京字節跳動網絡技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京中知法苑知識產權代理有限公司 11226
• 代理人: 李明;趙吉陽

1.一種測試方法，其特征在于，所述測試方法包括：

獲取待測試軟件開發工具包的各個接口函數，以及所述接口函數對應的算法參數；

針對所述接口函數對應的算法參數中的至少兩個算法參數，根據每個所述算法參數對應的參數取值范圍，為所述算法參數分配對應的參數值，得到所述至少兩個算法參數各自對應的鍵值對；每個鍵值對包含算法參數的參數標識和該算法參數的一個參數值；

將得到的多個鍵值對進行組合處理，得到覆蓋所述多個鍵值對的多個場景測試用例；其中，每個場景測試用例中包含至少兩個鍵值對，且該至少兩個鍵值對中的參數標識不同；

基于多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發工具包進行測試。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述針對所述接口函數對應的算法參數中的至少兩個算法參數，根據每個所述算法參數對應的參數取值范圍，為所述算法參數分配對應的參數值，得到所述至少兩個算法參數各自對應的鍵值對，包括：

從所述接口函數對應的算法參數中，篩選出對所述待測試軟件工具開發包的功能影響程度排序靠前的至少兩個算法參數；

針對篩選的所述至少兩個算法參數，根據每個所述算法參數對應的參數取值范圍，為所述算法參數分配對應的參數值，得到篩選的所述至少兩個算法參數各自對應的鍵值對。

3.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述基于多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發工具包進行測試，包括：

獲取所述待測試軟件開發工具包中定義的各個接口函數的執行順序，以及各個接口函數之間的調用關系；

按照所述執行順序和所述調用關系，依次通過多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發工具包進行測試。

4.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，針對任一個所述場景測試用例，通過所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發工具包進行測試，包括：

調用與所述場景測試用例對應的測試算法，將所述場景測試用例中的算法參數的參數值，輸入至所述待測試軟件開發工具包的接口函數的算法參數中，對所述待測試軟件開發工具包進行測試；不同的測試算法對應的測試功能不同。

5.根據權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述測試算法包括用于匹配以下至少一種場景測試用例的算法：

預先定義的通用測試的場景測試用例；

包含算法模型的全部算法參數的場景測試用例；

包含所述算法模型的部分算法參數的場景測試用例；

其中，所述算法模型與所述待測試軟件開發工具相匹配。

6.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述基于多個所述場景測試用例，對所述待測試軟件開發工具包進行測試之后，所述測試方法還包括：

生成多個所述場景測試用例的測試結果；

從多個所述場景測試用例中，確定測試結果為測試出錯的所述場景測試用例；

根據測試出錯的所述場景測試用例，生成測試報告。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述根據測試出錯的所述場景測試用例，生成測試報告，包括：

從測試出錯的所述場景測試用例中，確定共同攜帶的所述算法參數的參數值；

將確定出的所述算法參數的參數值，確定為導致所述待測試軟件開發工具包運行異常的異常值；

根據導致所述待測試軟件開發工具包運行異常的異常值，生成所述測試報告。