[發明專利]產品可靠性評估方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010108040.3
• 申請日: 2020-02-21
• 公開（公告）號: CN111340349B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發明（設計）人: 吳凡;聶國健;張劍偉;胡寧;陳冰泉
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06Q10/0639
• 分類號: G06Q10/0639;G06F30/20
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 盧曉霞

本申請涉及一種產品可靠性評估方法、裝置、計算機設備和存儲介質。所述方法包括：獲取并根據各預設元器件的第一故障仿真結果數據中各故障仿真結果數據的標識，得到第二故障仿真結果數據；對第二故障仿真結果數據進行分布擬合，確定各預設元器件的故障分布函數；根據預設第一隨機數集合和故障分布函數進行數據抽樣，得到各PCBA的故障分布函數和故障分布參數值集合；根據預設第二隨機數集合和各PCBA的故障分布函數進行數據抽樣，得到產品的故障分布函數和故障分布參數值集合；根據各PCBA的故障分布函數和故障分布參數值集合以及產品的故障分布函數和故障分布參數值集合，得到產品可靠性評估結果。采用本方法能夠準確地對產品進行可靠性評估。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別是涉及一種產品可靠性評估方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

隨著故障物理研究的發展，出現了基于故障物理的產品可靠性評估技術，產品可靠性評估是指基于故障物理模型開展故障預計，得到產品可靠性評估結果。

傳統產品可靠性評估技術中，是在得到產品評估故障前時間和主故障機理后，假定產品服從某一函數分布，利用該函數分布的公式，擬合得到產品的可靠度函數，根據可靠度函數得到產品的失效時間和失效率的點估計值，根據點估計值對產品進行可靠性評估。

然而，傳統產品可靠性評估方法，由于只依靠某一假定的函數分布和點估計值對產品進行可靠性評估，存在評估不準確的問題。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠準確地對產品進行可靠性評估的產品可靠性評估方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種產品可靠性評估方法，所述方法包括：

獲取各預設元器件的第一故障仿真結果數據；

根據第一故障仿真結果數據中各故障仿真結果數據的標識，得到各預設元器件的第二故障仿真結果數據；

對第二故障仿真結果數據進行分布擬合，確定各預設元器件的故障分布函數；

根據預設第一隨機數集合和各預設元器件的故障分布函數進行數據抽樣，對抽樣后得到的PCBA(printed?circuit?board?assembly，印刷電路板裝配)級故障仿真結果數據進行分布擬合，得到各PCBA的故障分布函數和故障分布參數值集合，故障分布參數值集合包括故障分布參數以及失效時間的點估計值和上下限區間值；

根據預設第二隨機數集合和各PCBA的故障分布函數進行數據抽樣，對抽樣后得到的產品級故障仿真結果數據進行分布擬合，得到產品的故障分布函數和故障分布參數值集合；

根據各PCBA的故障分布函數和故障分布參數值集合以及產品的故障分布函數和故障分布參數值集合，得到產品可靠性評估結果。

在其中一個實施例中，獲取各預設元器件的第一故障仿真結果數據包括：

獲取產品的可靠性仿真結果數據，根據可靠性仿真結果數據確定失效機理優先級；

根據失效機理優先級和預設待分析失效機理數，確定待分析失效機理；

根據待分析失效機理，從可靠性仿真結果數據中獲取各預設元器件的第一故障仿真結果數據。

在其中一個實施例中，根據第一故障仿真結果數據中各故障仿真結果數據的標識，得到各預設元器件的第二故障仿真結果數據包括：

根據第一故障仿真結果數據中各故障仿真結果數據的標識，確定與各待分析失效機理對應的故障仿真結果數據；

對與各待分析失效機理對應的故障仿真結果數據進行預處理，根據預處理后的故障仿真結果數據，得到各預設元器件的第二故障仿真結果數據。