[發(fā)明專利]半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010105340.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112542192A | 公開(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 武木田秀人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鎧俠股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C16/04 | 分類號(hào): | G11C16/04;H01L27/11556;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 楊林勳 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 存儲(chǔ) 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,具備:
第1單元區(qū)域,具備沿著第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第1導(dǎo)電體層、及在所述多個(gè)第1導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第1半導(dǎo)體層,且所述多個(gè)第1導(dǎo)電體層與所述第1半導(dǎo)體層的交點(diǎn)分別構(gòu)成存儲(chǔ)單元;
第2單元區(qū)域,具備沿著所述第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第2導(dǎo)電體層、及在所述多個(gè)第2導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第2半導(dǎo)體層,且所述多個(gè)第2導(dǎo)電體層與所述第2半導(dǎo)體層的交點(diǎn)分別構(gòu)成存儲(chǔ)單元;以及
第1連接區(qū)域,在與所述第1方向交叉的第2方向上配置在所述第1單元區(qū)域與所述第2單元區(qū)域之間,且具備第1橋接區(qū)域及第1階梯區(qū)域,在所述第1橋接區(qū)域,沿著所述第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第3導(dǎo)電體層分別電連接所述多個(gè)第1導(dǎo)電體層中的1層及所述多個(gè)第2導(dǎo)電體層中的1層,在所述第1階梯區(qū)域,所述多個(gè)第3導(dǎo)電體層分別具備用來設(shè)置第1接觸插塞的階臺(tái)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其中
所述第1階梯區(qū)域在與所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上連接于所述第1橋接區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其中
第1連接區(qū)域更具備第1副通道區(qū)域,所述第1副通道區(qū)域在所述第2方向上與所述第1橋接區(qū)域及所述第1階梯區(qū)域相鄰,設(shè)置著在所述多個(gè)第3導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第2接觸插塞。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其中
在所述第1副通道區(qū)域,所述多個(gè)第3導(dǎo)電體層分別電連接所述多個(gè)第1導(dǎo)電體層中的1層及所述多個(gè)第2導(dǎo)電體層中的1層。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其具備:
第1狹縫,在所述第3方向上,與所述第1單元區(qū)域、所述第1連接區(qū)域、及所述第2單元區(qū)域相鄰;
第3單元區(qū)域,在所述第3方向上介隔所述第1狹縫與所述第1單元區(qū)域相鄰,且具備沿著所述第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第4導(dǎo)電體層、及在所述多個(gè)第4導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第3半導(dǎo)體層,所述多個(gè)第4導(dǎo)電體層與所述第3半導(dǎo)體層的交點(diǎn)分別構(gòu)成存儲(chǔ)單元;
第4單元區(qū)域,在所述第3方向上介隔所述第1狹縫與所述第2單元區(qū)域相鄰,且具備沿著所述第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第5導(dǎo)電體層、及在所述多個(gè)第5導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第4半導(dǎo)體層,所述多個(gè)第5導(dǎo)電體層與所述第4半導(dǎo)體層的交點(diǎn)分別構(gòu)成存儲(chǔ)單元;以及
第2連接區(qū)域,在所述第2方向上配置在所述第3單元區(qū)域與所述第4單元區(qū)域之間,且具備第2橋接區(qū)域、第2階梯區(qū)域及第2副通道區(qū)域,在所述第2橋接區(qū)域,沿著所述第1方向相互有間隔地積層的多個(gè)第6導(dǎo)電體層分別電連接所述多個(gè)第4導(dǎo)電體層中的1層及所述多個(gè)第5導(dǎo)電體層中的1層,在所述第2階梯區(qū)域,所述多個(gè)第6導(dǎo)電體層分別具備用來設(shè)置第3接觸插塞的階臺(tái),且所述第2階梯區(qū)域在所述第3方向上連接于所述第2橋接區(qū)域,所述第2副通道區(qū)域在所述第2方向上與所述第2橋接區(qū)域及所述第2階梯區(qū)域相鄰,且設(shè)置著在所述多個(gè)第6導(dǎo)電體層內(nèi)在所述第1方向上延伸的第4接觸插塞。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,其中
所述第1橋接區(qū)域及所述第1階梯區(qū)域在所述第3方向上介隔所述第1狹縫與所述第2副通道區(qū)域相鄰,且
所述第2橋接區(qū)域及所述第2階梯區(qū)域在所述第3方向上介隔所述第1狹縫與所述第1副通道區(qū)域相鄰。
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