[發明專利]建立組合件的交界軌跡的系統及方法在審
| 申請號: | 202010101373.3 | 申請日: | 2020-02-19 |
| 公開(公告)號: | CN113077542A | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發明(設計)人: | 許秉澄;黃成凱;陳俊皓;楊淳宜;林依潁 | 申請(專利權)人: | 財團法人工業技術研究院 |
| 主分類號: | G06T17/00 | 分類號: | G06T17/00;G06T19/00;G06T7/60 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 建立 組合 交界 軌跡 系統 方法 | ||
1.一種建立組合件的交界軌跡的系統,其中所述組合件包括彼此組合的第一部件與第二部件,其特征在于,所述系統包括:
立體模型建立模塊,掃描所述第一部件以及所述第二部件,以建立所述第一部件的第一立體模型數據,與所述第二部件的第二立體模型數據;
處理模塊,依據所述第一立體模型數據與所述第二立體模型數據,建立組合立體模型數據,并自所述組合立體模型數據判定交界區,再依據所述交界區決定映像于所述組合件上的檢測點;以及
材質檢測模塊,檢測所述組合件在所述檢測點的材質;其中所述處理模塊依據所述材質檢測模塊的檢測結果,建立所述第一部件與所述第二部件在所述組合件中的交界軌跡。
2.根據權利要求1所述的系統,其中所述材質檢測模塊包括非破懷性材質檢測裝置。
3.根據權利要求2所述的系統,其中所述材質檢測模塊包括X-射線熒光光譜分析儀、原子力顯微鏡、導電原子力顯微鏡、離子束剖面研磨、掃描電子顯微鏡/能量色散X-射線光譜、雙束聚焦離子束/能量色散X-射線光譜、或穿透式電子顯微鏡/能量色散X-射線光譜。
4.根據權利要求2所述的系統,其中所述材質檢測模塊還包括自動化載具,所述自動化載具承載所述非破懷性材質檢測裝置。
5.根據權利要求4所述的系統,其中所述自動化載具包括多軸機器人手臂。
6.根據權利要求1所述的系統,其中所述立體模型建立模塊包括多景深影像捕獲設備。
7.根據權利要求6所述的系統,其中所述立體模型建立模塊還包括自動化載具,所述自動化載具承載所述多景深影像捕獲設備。
8.根據權利要求7所述的系統,其中所述自動化載具包括多軸機器人手臂。
9.根據權利要求1所述的系統,其中所述系統還包括載臺,承載所述組合件,且將所述組合件定位在所述材質檢測模塊或所述立體模型建立模塊的工作范圍內。
10.根據權利要求1所述的系統,其中所述處理模塊包括處理器及存儲單元,所述存儲單元存儲所述第一立體模型數據與所述第二立體模型數據,且所述處理器比較與分析所述第一立體模型數據與所述第二立體模型數據以建立所述組合立體模型數據,并自所述組合立體模型數據判定所述交界區,再依據所述交界區決定映像于所述組合件上的所述檢測點。
11.一種建立組合件的交界軌跡的方法,其特征在于,包括:
掃描所述組合件的第一部件以及第二部件,以建立所述第一部件的第一立體模型數據與所述第二部件的第二立體模型數據;
依據所述第一立體模型數據與所述第二立體模型數據,建立組合立體模型數據,并自所述組合立體模型數據判定交界區,再依據所述交界區決定映像于所述組合件上的檢測點;
檢測所述組合件在所述檢測點的材質;以及
依據材質檢測結果,建立所述第一部件與所述第二部件在所述組合件中的交界軌跡。
12.根據權利要求11所述的方法,其中建立所述組合立體模型數據的方法包括迭代最近點算法、通用迭代最近點算法、分段代最近點算法、點特征直方圖算法、快速點特征直方圖算法或上述算法的任一組合。
13.根據權利要求11所述的方法,其中所述檢測點包括與設定點相隔第一間隔距離的第一檢測點、與所述設定點相隔第二間隔距離的第二檢測點,以及位于所述第一檢測點與所述第二檢測點之間的第三檢測點,且所述設定點位于所述交界區內。
14.根據權利要求13所述的方法,其中所述方法還包括設定允許誤差,且比較在所述第一檢測點與所述第三檢測點檢測到的材質。
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