[發明專利]一種對核酸酶活性進行特異性調控的方法有效
| 申請號: | 202010095710.2 | 申請日: | 2020-02-17 |
| 公開(公告)號: | CN111172252B | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發明(設計)人: | 肖先金;明志浩;章偉 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | C12Q1/6858 | 分類號: | C12Q1/6858;C12Q1/682;C12Q1/6827 |
| 代理公司: | 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401 | 代理人: | 楊采良 |
| 地址: | 430074 *** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 核酸酶 活性 進行 特異性 調控 方法 | ||
1.一種對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,所述對核酸酶活性進行特異性調控的方法包括:
步驟一,對不同突變位點的基因序列,設計相應的Guiding鏈;
步驟二,合成制備所需的Guiding鏈;
步驟三,將Guiding鏈與探針檢測體系混合,使底物鏈轉化為長度更長的DNA雙鏈,Guiding鏈與底物鏈的比例為2:1;
步驟四,向包含Guiding鏈和探針檢測體系的混合體系中加入Endo IV,并進行實時熒光測定;
步驟一設計Guiding鏈的方法包括:
步驟1,確定底物鏈的探針雜交域,所述底物鏈為待檢測的目標序列;
步驟2,設計兩條DNA單鏈,所述DNA單鏈為Guiding鏈,使兩條Guiding鏈其與底物鏈的探針雜交結構域外的部分互補且探針與Guiding鏈之間無堿基間隙,一起構成核酸酶優先結合的長雙鏈結構。
2.如權利要求1所述的對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,Guiding鏈的長度大于20-nt。
3.如權利要求1所述的對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,若突變位置過于靠近底物鏈5’或3’端,只引入一條Guiding鏈與底物雜交結構域外互補。
4.如權利要求1所述的對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,步驟2對核酸酶活性進行調控的方法包括:
步驟I,設計反應體系,合成制備寡核苷酸鏈;反應體系包括核酸酶,探針,緩沖液,H2O和雙鏈DNA;探針序列為SEQ ID NO:1,引物序列為SEQ ID NO:2,雙鏈DNA為序列包括SEQ IDNO:3、SEQ ID NO:4;
步驟II,配置反應體系,在400uL酶標條中,加入100nM探針,5uL ThermoPol緩沖液,0.1單位Endo IV或2單位APE-1或2單位lambda exo,并用去離子水補齊到50uL總體積;
步驟III,向上述反應體系中加入不同量,不同長度的雙鏈DNA,放入熒光檢測儀器中,進行實時熒光測定;
熱程序:37℃,每20s測定一次熒光值。
5.如權利要求1所述的對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,步驟四進行實時熒光測定的方法進一步包括:
步驟i,設計反應體系,合成制備寡核苷酸鏈,靶標為EGFR-L858R突變,依據該突變的DNA序列,設計Endo IV參與的核酸檢測體系所需的底物鏈MT序列為SEQ ID NO:6,WT序列為SEQ ID NO:7;探針probe,探針序列為SEQ ID NO:1,阻斷鏈blocker序列為SEQ ID NO:5以及相應的Guiding鏈序列包括SEQ ID NO:8、SEQ ID NO:9;
步驟ii,配置反應體系,在400uL酶標條中,加入100nM probe,1000nM MT/WT,2000nMblocker, 5uL ThermoPol緩沖液,0.1單位Endo IV,向其中一組加入2000nM Guiding-1,2000nM Guiding-2,另一組不加,兩組均用去離子水補齊到50uL總體積;
步驟iii,將上述反應體系迅速放入熒光檢測儀器中,進行實時熒光測定;
熱程序:37℃,每20s測定一次熒光值。
6.如權利要求1所述的對核酸酶活性進行特異性調控的方法,其特征在于,步驟四進行實時熒光測定的方法進一步包括:
步驟(a),設計反應體系,合成制備寡核苷酸鏈;靶標為EGFR-L858R突變,依據該突變的DNA序列,設計Endo IV參與的核酸檢測體系所需的底物鏈MT,WT,探針probe,阻斷鏈blocker以及相應的Guiding鏈;
步驟(b),配置反應體系,不同比例突變體的50μL反應體系:
探針量:1000nM;
突變比例:100%,10%,1%,0.5%,0.1%,0.01%,0%,混合鏈總量均為1000nM;
阻斷鏈量:2000nM;
Guiding鏈量:2000nM;
Endo IV量:0.1單位;
步驟(c),將上述反應體系迅速放入熒光檢測儀器中,進行實時熒光測定;
熱程序:37℃,每20s測定一次熒光值。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華中科技大學,未經華中科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010095710.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





