[發明專利]磁盤用基板、磁盤、以及磁盤驅動裝置

有效

• 申請號: 202010092798.2
• 申請日: 2016-03-31
• 公開（公告）號: CN111341353B
• 公開（公告）日: 2022-03-11
• 發明（設計）人: 板谷旬展;越阪部基延
• 申請（專利權）人: HOYA株式會社
• 主分類號: G11B5/84
• 分類號: G11B5/84;G11B5/82;G11B5/73;B82Y40/00;B82Y10/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 龐東成

1.一種磁盤用基板，其特征在于，

所述磁盤用基板具有一對主表面，

所述主表面的算術平均粗糙度Ra為0.11nm以下，

所述算術平均粗糙度Ra是使用具備探針的原子力顯微鏡所測得的值，該探針在探針前端設置有碳納米纖維的棒狀部件，

所述磁盤用基板為玻璃基板或由鋁合金構成的基板。

2.如權利要求1所述的磁盤用基板，其中，

所述磁盤用基板具有一對主表面，

在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為25[nm²/個]以下。

3.一種磁盤用基板，其特征在于，

所述磁盤用基板具有一對主表面，

在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為25[nm²/個]以下，

所述主表面的表面凹凸是使用具備探針的原子力顯微鏡所測得的值，該探針在探針前端設置有碳納米纖維的棒狀部件，

所述磁盤用基板為玻璃基板或由鋁合金構成的基板。

4.如權利要求3所述的磁盤用基板，其中，所述主表面的算術平均粗糙度Ra為0.15nm以下。

5.如權利要求2所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為20[nm²/個]以下。

6.如權利要求3所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為20[nm²/個]以下。

7.如權利要求4所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.1[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為20[nm²/個]以下。

8.如權利要求2所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。

9.如權利要求3所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。

10.如權利要求4所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。

11.如權利要求5所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。

12.如權利要求6所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。

13.如權利要求7所述的磁盤用基板，其中，在所述主表面的表面凹凸中，從該表面凹凸的平均面起具有0.2[nm]以上的高度的2個以上凸部各自所占的區域的面積的平均為12[nm²/個]以下。