[發明專利]一種芯片燒錄檢測方法、系統和計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202010090183.6 | 申請日: | 2020-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN111273155A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 周露露;鐘曉欣 | 申請(專利權)人: | 佛山普瑞威爾科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01N21/956 |
| 代理公司: | 佛山粵進知識產權代理事務所(普通合伙) 44463 | 代理人: | 王儲 |
| 地址: | 528200 廣東省佛山市南海區桂城街道夏南路61號*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 芯片 檢測 方法 系統 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
接收燒錄完成的PCB板,所述PCB板上排布有多個芯片;
對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,所述多元化檢測包括外觀檢測、硬件檢測以及程序檢測;
結合屬性轉換表對各個芯片的多元化檢測結果進行屬性值轉換,得到對應的屬性值;
基于得到的屬性值分別對PCB板上的各個芯片進行標記,以使質檢員直觀查看各個芯片的燒錄檢測結果。
2.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,具體包括:
基于完整的芯片樣本對PCB板上每個芯片的殘缺率進行計算;
判斷每個芯片的殘缺率是否超過預設的殘缺閥值,如果目標芯片的殘缺率超過預設的殘缺閥值,則其外觀檢測結果為不合格,如果目標芯片的殘缺率未超過預設的殘缺閥值,則其外觀檢測結果為合格。
3.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,具體還包括:
分別對PCB板上的各個芯片進行上電;
采用萬用表分別檢測各個芯片的金屬端子的電平;
判斷目標金屬端子的電平是否落入預設范圍,如果落入,則目標金屬端子的檢測結果為合格;如果未落入,則目標金屬端子的檢測結果為不合格;
根據上一步遍歷目標芯片的所有金屬端子,當目標芯片的所有金屬端子檢測合格時,則判定目標芯片的外設硬件檢測結果為合格;當目標芯片的任意一個金屬端子檢測不合格時,則判定目標芯片的外設硬件檢測結果為不合格。
4.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,具體還包括:
分別對PCB板上的各個芯片進行上電;
分別向各個芯片輸入測試指令,且所述測試指令由正確的程序運行能夠輸出對應的測試結果;
由各個芯片已燒錄的程序分別基于測試指令進行運算處理;
獲取各個芯片輸出的實際結果,并判斷所述實際結果是否與所述測試結果相同;如果相同,則目標芯片的程序檢測結果為合格,如果不相同,則目標芯片的程序檢測結果為不合格。
5.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,具體還包括:
對每個芯片至少進行一次多元化檢測;
當某芯片的第一次多元化檢測結果未達到預設的合格閾值時,對該芯片額外增設第二次和第三次多元化檢測過程;
綜合三次多元化檢測結果得到該芯片的最終多元化檢測結果。
6.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,所述屬性值為阿拉伯數字、英文字母、希臘字母、符號中的任意一種或多種。
7.根據權利要求1所述的一種芯片燒錄檢測方法,其特征在于,在基于得到的屬性值分別對PCB板上的各個芯片進行標記之后,所述方法還包括:
根據不同的屬性值將芯片分為三類:合格芯片、不合格且可回收芯片、不合格且不可回收芯片;
根據各個芯片的標記結果篩選出合格芯片,廢棄不合格且不可回收芯片,將不合格且可回收芯片進行回收處理。
8.一種芯片燒錄檢測系統,其特征在于,所述系統包括:
接收模塊,用于接收燒錄完成的PCB板,所述PCB板上排布有多個芯片;
多元化檢測模塊,用于對所述PCB板上的各個芯片分別進行多元化檢測得到多元化檢測結果,所述多元化檢測包括外觀檢測、硬件檢測以及程序檢測;
屬性轉換模塊,用于結合屬性轉換表對各個芯片的多元化檢測結果進行屬性值轉換,得到對應的屬性值;
標記模塊,基于得到的屬性值分別對PCB板上的各個芯片進行標記,以使質檢員直觀查看各個芯片的燒錄檢測結果。
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