[發(fā)明專利]包括處理步驟的循環(huán)沉積方法及用于其的裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010088106.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111593329A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | S.H.李;H.Y.權(quán);K.K.金;S.B.金;J.H.安;S.R.金 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | ASMIP私人控股有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C16/455 | 分類號(hào): | C23C16/455;C23C16/50;H01L21/762 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 焦玉恒 |
| 地址: | 荷蘭阿*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 包括 處理 步驟 循環(huán) 沉積 方法 用于 裝置 | ||
公開(kāi)了一種用于在基板的表面上沉積材料的方法和裝置。該方法可包括處理步驟以抑制基板的表面上材料沉積的速率。該方法可產(chǎn)生更高質(zhì)量的沉積材料。另外或替代地,該方法可用于填充基板表面內(nèi)的凹部,其中接縫形成減少或無(wú)接縫形成。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)總體上涉及用于制造電子器件的方法和裝置。更具體地講,本公開(kāi)涉及用于在電子器件的形成期間沉積膜的方法和裝置。
背景技術(shù)
在電子器件如集成電路的制造期間,常常向基板的表面上沉積材料的膜或?qū)印_@樣的膜可被圖案化和蝕刻以形成所需的結(jié)構(gòu)。另外或替代地,可在基板的表面上沉積膜以填充凹部,例如通孔、溝槽或翅片之間的空間。
在填充凹部的情況下,典型的膜沉積工藝可能存在缺點(diǎn),包括在凹部中形成空隙。在凹部被沉積材料完全填充之前,當(dāng)沉積材料在凹部的頂部附近形成收縮時(shí)可能會(huì)形成空隙。這樣的空隙可能損害集成電路(IC)的器件的器件隔離以及IC的總體結(jié)構(gòu)完整性。遺憾的是,防止在凹部填充期間形成空隙可能對(duì)凹部施加尺寸約束,這可能會(huì)限制IC的器件封裝密度。
可通過(guò)減小凹部深度和/或使凹部側(cè)壁逐漸變細(xì)使得凹部的開(kāi)口在頂部處比在凹部的底部處寬來(lái)減輕空隙的形成。減小凹部深度的妥協(xié)可能是降低器件隔離的有效性,而側(cè)壁逐漸變細(xì)的凹部較大的頂部開(kāi)口可能會(huì)占用額外的IC空間。當(dāng)試圖減小器件尺寸時(shí),這些問(wèn)題可能變得越來(lái)越成問(wèn)題。此外,通常可能需要形成相對(duì)高質(zhì)量的膜——例如,在例如氫氟酸和/或磷酸中具有相對(duì)高蝕刻速率的膜。因此,需要用于形成高質(zhì)量膜和/或用于填充凹部的改進(jìn)方法和裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)的各種實(shí)施方案涉及向基板的表面上沉積材料的方法及用于沉積材料的裝置。雖然下文將更詳細(xì)地討論本公開(kāi)的各種實(shí)施方案解決現(xiàn)有方法的缺點(diǎn)的方式,但總體上,本公開(kāi)的示例性實(shí)施方案提供了用于沉積高質(zhì)量材料的改進(jìn)方法和裝置和/或用沉積材料無(wú)縫地填充高縱橫比凹部的方法。如下文更詳細(xì)地闡述的,示例性方法可包括處理基板的表面以抑制或減慢沉積材料的生長(zhǎng)速率的步驟。生長(zhǎng)速率的抑制據(jù)認(rèn)為會(huì)改善沉積材料的質(zhì)量和/或促進(jìn)凹部用沉積材料的無(wú)縫填充。另外,可沉積高質(zhì)量材料而無(wú)需對(duì)沉積材料進(jìn)行后處理退火,否則常要進(jìn)行退火以改善沉積材料的質(zhì)量。
根據(jù)本公開(kāi)的至少一個(gè)實(shí)施方案,在基板表面的表面上沉積材料的方法包括步驟:在反應(yīng)腔室中提供基板;由第一反應(yīng)物形成第一活性物質(zhì)以改性基板的表面;和進(jìn)行一個(gè)或多個(gè)沉積循環(huán)以沉積所述材料。每個(gè)沉積循環(huán)可包括向基板引入第二反應(yīng)物,其中所述第二反應(yīng)物與表面反應(yīng)形成化學(xué)吸附材料;和由第三反應(yīng)物形成第二活性物質(zhì),所述第二活性物質(zhì)與化學(xué)吸附材料反應(yīng)形成沉積材料。形成第一活性物質(zhì)的步驟的數(shù)量與沉積循環(huán)的數(shù)量的比率可在約1∶1至約1∶10的范圍內(nèi)。根據(jù)各個(gè)方面,第一反應(yīng)物的流動(dòng)在形成第一活性物質(zhì)的步驟和進(jìn)行一個(gè)或多個(gè)沉積循環(huán)的步驟期間是連續(xù)的。根據(jù)進(jìn)一步的方面,可在形成第一活性物質(zhì)和進(jìn)行一個(gè)或多個(gè)沉積循環(huán)的步驟期間連續(xù)地提供惰性氣體。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的
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