[發明專利]光學測定裝置

有效

• 申請號: 202010087557.9
• 申請日: 2016-07-07
• 公開（公告）號: CN111257229B
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發明（設計）人: 大澤祥宏;水口勉;野口宗裕
• 申請（專利權）人: 大塚電子株式會社
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本發明提供一種光學測定裝置，具備：光纖，其用于將來自光源的光引導至殼體；檢測元件，其配置在所述殼體的內部；衍射光柵，其用于將來自所述光源的光引導至所述檢測元件；冷卻機構，其至少局部與所述檢測元件接合，用于冷卻所述檢測元件；溫度調節機構，其用于使所述殼體的內部空間的溫度維持為固定；以及隔熱機構，其配置在所述殼體的周圍，用于減少熱從所述殼體的周圍向所述殼體內的侵入，其中，所述冷卻機構包括：基部，其形成所述殼體的一部分，并且用于支承所述檢測元件；第一電子冷卻元件，其配置在所述基部的內部；以及冷卻翅片，其經由接合層接合于所述基部的外表面。

本申請是申請日為2016年7月7日、申請號為2016105320062、發明名稱為“光學特性測定系統以及光學特性測定系統的校正方法”的申請的分案申請。

技術領域

本技術涉及一種光學測定裝置。

背景技術

存在如下需求：為了對含有光敏物質的材料或試劑的特性進行評價而想要對這些物質發出的微弱的光進行測定。例如，日本特開平09-159604號公報公開了一種純態氧測定裝置，其對于含有對從紫外區域到可視區域的任意的波長都具有光吸收特性的光敏物質的試樣、對光直接或間接地不穩定且只能得到少量的試樣也能夠進行測定。

另外，日本特開平09-292281號公報、國際公開第2010/084566號以及日本特開2011-196735號公報公開了一種測定量子效率的測定裝置和測定方法，其中，該量子效率表示含有熒光發光物質的試樣所吸收的光量子量與從試樣產生的熒光的光量子量之間的比。

在日本特開平09-159604號公報所公開的純態氧測定裝置中，為了提高檢測靈敏度而使用了液氮冷卻型鍺探測器。通過使用液氮等來冷卻檢測元件，能夠使檢測元件穩定化，能夠擴大檢測動態范圍。另一方面，為了用液氮冷卻檢測元件，將預冷等也包括在內到達能夠實際使用的狀態為止需要進行幾個小時的準備，因此不實用。

發明內容

希望實現一種能夠在較短的時間內安裝并且能夠提高檢測靈敏度的光學特性測定系統。

按照本發明的某個方面，提供一種具備第一測定裝置的光學特性測定系統。第一測定裝置包括：第一檢測元件，其配置在殼體內；第一冷卻部，其至少局部與第一檢測元件接合，用于冷卻第一檢測元件；以及抑制機構，其用于抑制在殼體內的第一檢測元件的周圍產生的溫度變化。

優選的是，抑制機構包括第二冷卻部，該第二冷卻部至少局部與殼體接合，用于將殼體內的熱向殼體的外部排出。

優選的是，抑制機構包括隔熱機構，該隔熱機構配置在殼體的周圍，用于抑制熱從殼體的周圍向殼體內侵入。

優選的是，光學特性測定系統還包括第二測定裝置。第一測定裝置還包括第一衍射光柵，該第一衍射光柵與第一檢測元件相對應地配置，構成為將第一波長范圍的光引導至第一檢測元件。第二測定裝置包括：第二檢測元件，其配置在殼體內；以及第二衍射光柵，其與第二檢測元件相對應地配置，構成為將第二波長范圍的光引導至第二檢測元件。第一測定裝置的第一檢測元件構成為檢測靈敏度比第二測定裝置的第二檢測元件的檢測靈敏度高。

優選的是，光學特性測定系統還包括分枝光纖，該分枝光纖將來自測定對象的光分枝后分別引導至第一測定裝置和第二測定裝置。

優選的是，第一測定裝置構成為對近紅外區域的波長分量具有檢測靈敏度。第二測定裝置構成為對包含在從紫外區域到可視區域的范圍內的至少一部分的波長分量具有檢測靈敏度。