[發明專利]光學測定裝置有效
| 申請號： | 202010087557.9 | 申請日： | 2016-07-07 |
| 公開（公告）號： | CN111257229B | 公開（公告）日： | 2023-05-12 |
| 發明（設計）人： | 大澤祥宏;水口勉;野口宗裕 | 申請（專利權）人： | 大塚電子株式會社 |
| 主分類號： | G01N21/01 | 分類號： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 測定 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種光學測定裝置，具備：
光纖，其用于將試樣所產生的光引導至殼體；
檢測元件，其配置在所述殼體的內部；
衍射光柵，其用于將所述試樣所產生的光引導至所述檢測元件；
冷卻機構，其至少局部與所述檢測元件接合，用于冷卻所述檢測元件；
溫度調節機構，其用于使所述殼體的內部空間的溫度維持為固定；以及
隔熱機構，其配置在所述殼體的周圍，用于減少熱從所述殼體的周圍向所述殼體內的侵入，
其中，所述冷卻機構包括：
基部，其形成所述殼體的一部分，并且用于支承所述檢測元件；
第一電子冷卻元件，其配置在所述基部的內部；以及
冷卻翅片，其經由接合層接合于所述基部的外表面。
2.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述溫度調節機構包括以下機構：該機構至少局部與所述殼體接合，用于將所述殼體內的熱向所述殼體的外部排出。
3.根據權利要求2所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述溫度調節機構包括：
第二電子冷卻元件，其至少局部與所述殼體接合；
散熱板，其與所述第二電子冷卻元件接合；以及
制冷劑循環泵，其使制冷劑在包括所述散熱板的路徑中循環。
4.根據權利要求1～3中的任一項所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述隔熱機構包括隔熱件和真空層中的一方。
5.根據權利要求1～3中的任一項所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述隔熱機構包括使溫度受到控制的制冷劑在所述殼體的周圍循環的機構。
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