[發明專利]一種兩層合采井單層產量計算方法、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010086550.5
• 申請日: 2020-02-11
• 公開（公告）號: CN111272924A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 何文祥;胡勇
• 申請（專利權）人: 長江大學
• 主分類號: G01N30/86
• 分類號: G01N30/86
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 趙澤夏

本發明公開了一種兩層合采井單層產量計算方法、設備及可讀存儲介質。兩層合采井單層產量計算方法包括如下步驟：獲取合采井采出的合采油的總產量；并獲取第一樣品、第二樣品及第三樣品；分別對脫水后的第一樣品、第二樣品及第三樣品進行氣相色譜檢測；制作標準指紋圖版；確定第三氣相色譜圖上各個所述指紋化合物的絕對濃度并投點到標準指紋圖版上；確定來自第一層位及來自第二層位的原油產量。本發明的有益效果是：通過指紋化合物的絕對濃度計算兩層合采井單層產量貢獻比例，避免了傳統的選用相鄰峰的峰面積比值作為指紋參數而導致的需要大量原油樣品進行配比實驗的弊端，從而降低了對原油樣品量的要求。

技術領域

本發明涉及石油開發技術領域，尤其是涉及一種兩層合采井單層產量計算方法、設備及可讀存儲介質。

背景技術

為優化生產,許多生產開發井是兩個油層混合開采的,弄清楚每個單油層對兩層合采井的產量貢獻比例,并動態監測石油產量隨開采時間的變化、監測油井生產動態、對油藏進行分層管理、識別是否有油井槽竄或邊水突進等現象,對于油田制定調整開發方案、優化油田管理具有重要意義。

通過色譜指紋法可以確定兩層合采井單層產量貢獻率。其方法大多是選用相鄰峰(指紋)的峰面積比值作為指紋參數，這樣雖然可以消除進樣誤差對分析結果的影響，卻需要大量的原油樣品進行配比實驗。然而國內大部分油田油井的含水率較高，并且為避免其它化學物質的影響，原油樣品不宜進行化學脫水，因此獲取大量原油樣品有一定困難，限制了色譜指紋法在確定兩層合采井單層產量的應用。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種對樣品量要求較低、且能確定兩層合采井單層原油產量、從而應用于油田生產動態監測的方法。

本發明提供了一種兩層合采井單層產量計算方法，包括如下步驟：

S100、獲取合采井采出的合采油的總產量，并獲取第一樣品、第二樣品及第三樣品，以對所述第一樣品、所述第二樣品及所述第三樣品進行機械脫水，其中，所述合采油來源于第一層位和第二層位，所述第一樣品采自所述第一層位，所述第二樣品采自所述第二層位，所述第三樣品采自所述合采油；

S200、分別對脫水后的所述第一樣品、所述第二樣品及所述第三樣品進行氣相色譜檢測，以得到所述第一樣品的第一氣相色譜圖、所述第二樣品的第二氣相色譜圖及所述第三樣品的第三氣相色譜圖；

S300、根據所述第一氣相色譜圖及所述第二氣相色譜圖，確定若干個指紋化合物，并以所述指紋化合物為標準制作標準指紋圖版；

S400、確定所述第三氣相色譜圖上各個所述指紋化合物的絕對濃度并投點到所述標準指紋圖版上，以確定所述合采油中來自所述第一層位的原油及來自所述第二層位的原油的比例；

S500、根據所述合采油的總產量以及所述合采油中來自所述第一層位的原油及來自所述第二層位的原油的比例，確定來自所述第一層位及來自所述第二層位的原油產量。

本發明還提供了一種兩層合采井單層產量計算設備，包括處理器和存儲器；所述存儲器上存儲有可被所述處理器執行的計算機可讀程序；所述處理器執行所述計算機可讀程序時實現了本發明提供的兩層合采井單層產量計算方法中的步驟。

本發明還提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有一個或者多個程序，所述一個或者多個程序可被一個或者多個處理器執行，以實現了本發明提供的兩層合采井單層產量計算方法中的步驟。

與現有技術相比，本發明提出的技術方案的有益效果是：通過指紋化合物的絕對濃度計算兩層合采井單層產量貢獻比例，避免了傳統的選用相鄰峰的峰面積比值作為指紋參數而導致的需要大量原油樣品進行配比實驗的弊端，從而降低了對原油樣品量的要求，能方便、快速地確定兩層合采井單層產量貢獻比例，可應用于產量監測、判斷優勢生產層位，以指導油田開發。

附圖說明