[發明專利]一種兩層合采井單層產量計算方法、設備及可讀存儲介質在審
| 申請號： | 202010086550.5 | 申請日： | 2020-02-11 |
| 公開（公告）號： | CN111272924A | 公開（公告）日： | 2020-06-12 |
| 發明（設計）人： | 何文祥;胡勇 | 申請（專利權）人： | 長江大學 |
| 主分類號： | G01N30/86 | 分類號： | G01N30/86 |
| 代理公司： | 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 趙澤夏 |
| 地址： | 430100 湖*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 兩層合采井 單層 產量 計算方法 設備 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種兩層合采井單層產量計算方法，其特征在于，包括如下步驟：
S100、獲取合采井采出的合采油的總產量，并獲取第一樣品、第二樣品及第三樣品，以對所述第一樣品、所述第二樣品及所述第三樣品進行機械脫水，其中，所述合采油來源于第一層位和第二層位，所述第一樣品采自所述第一層位，所述第二樣品采自所述第二層位，所述第三樣品采自所述合采油；
S200、分別對脫水后的所述第一樣品、所述第二樣品及所述第三樣品進行氣相色譜檢測，以得到所述第一樣品的第一氣相色譜圖、所述第二樣品的第二氣相色譜圖及所述第三樣品的第三氣相色譜圖；
S300、根據所述第一氣相色譜圖及所述第二氣相色譜圖，確定若干個指紋化合物，并以所述指紋化合物為標準制作標準指紋圖版；
S400、確定所述第三氣相色譜圖上各個所述指紋化合物的絕對濃度并投點到所述標準指紋圖版上，以確定所述合采油中來自所述第一層位的原油及來自所述第二層位的原油的比例；
S500、根據所述合采油的總產量以及所述合采油中來自所述第一層位的原油及來自所述第二層位的原油的比例，確定來自所述第一層位及來自所述第二層位的原油產量。
2.如權利要求1所述的兩層合采井單層產量計算方法，其特征在于，所述步驟S300中，確定所述指紋化合物的方法包括如下步驟：
S311、對比所述第一氣相色譜圖及所述第二氣相色譜圖，選擇其中峰形更完整的氣相色譜圖；
S312、對選出的氣相色譜圖中除正構烷烴外的每個峰編號，再以相同的標準對未選取的氣相色譜圖中相應的峰編號；
S313、根據所述第一氣相色譜圖的各個已編號的峰的峰面積，計算所述第一氣相色譜圖的各個已編號的峰對應的化合物的絕對濃度，根據所述第二氣相色譜圖的各個已編號的峰的峰面積，計算所述第二氣相色譜圖的各個已編號的峰對應的化合物的絕對濃度；
S314、比較所述第一樣品及所述第二樣品中各個已編號的峰對應的化合物的絕對濃度的差值，并篩選出若干個絕對濃度差值的絕對值最大的化合物，并作為所述特征化合物。
3.如權利要求2所述的兩層合采井單層產量計算方法，其特征在于，所述步驟S313中，所述第一氣相色譜圖的各個已編號的峰對應的化合物的絕對濃度的計算公式是：
Ci1＝fiAi1Ws/fsAs1W1
其中，Ci1為第一氣相色譜圖中編號為i的峰對應的化合物的絕對濃度，Ai1為第一氣相色譜圖中編號為i的峰的峰面積，As1為第一樣品檢測得到的第一內標物的峰面積，W1為第一樣品的量，Ws為第一內標物的量，fi為第一氣相色譜圖中編號為i的峰對應的化合物在色譜儀檢測中的校正因子，fs為第一內標物在色譜儀檢測中的校正因子，i為不小于1的自然數；
所述第二氣相色譜圖的各個已編號的峰對應的化合物的絕對濃度的計算公式是：
Ci2＝fiAi2Ws/fsAs2W2
其中，Ci2為第二氣相色譜圖中編號為i的峰對應的化合物的絕對濃度，Ai2為第二氣相色譜圖中編號為i的峰的峰面積，As2為第二樣品檢測得到的第二內標物的峰面積，W2為第二樣品的量，Ws為第二內標物的量，fi為第二氣相色譜圖中編號為i的峰對應的化合物在色譜儀檢測中的校正因子，fs為第二內標物在色譜儀檢測中的校正因子，i為不小于1的自然數。
4.如權利要求2所述的兩層合采井單層產量計算方法，其特征在于，所述特征化合物的數量為8～13個。
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