[發明專利]一種握持姿態檢測方法及電子設備

有效

• 申請號: 202010085464.2
• 申請日: 2020-01-31
• 公開（公告）號: CN113206913B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 劉海波;胡燕
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04M1/72448
• 分類號: H04M1/72448;H04M1/72403
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 侯林林

1.一種握持姿態檢測方法，應用于電子設備，其特征在于，包括：

所述電子設備獲取在N個采樣時刻下所述電子設備上的M個傳感器單元的特征信息，M和N為正整數；

所述電子設備根據所述特征信息，確定在所述N個采樣時刻下所述M個傳感器單元對應的N個狀態序列；

所述電子設備將所述N個狀態序列與預設的參考狀態序列集合中的K個參考狀態序列進行匹配，從所述K個參考狀態序列中確定相似度最大的第一參考狀態序列，K為正整數；

所述電子設備將所述第一參考狀態序列所對應的參考握持姿態作為所述電子設備的握持姿態；

所述電子設備根據所述N個狀態序列，對所述預設的參考狀態序列集合中的參考狀態序列進行更新；

其中，所述電子設備根據所述N個狀態序列，對所述預設的參考狀態序列集合中的參考狀態序列進行更新包括以下內容中的至少一項：

對所述預設的參考狀態序列集合中的所述第一參考狀態序列進行替換；

在所述預設的參考狀態序列集合中增加狀態序列；或，

從所述預設的參考狀態序列集合中刪除參考狀態序列。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子設備上的M個傳感器單元被劃分成L個傳感器組，所述特征信息包括所述M個傳感器單元的傳感器數據和傳感器單元的標識，其中L為正整數；

所述電子設備所述根據所述特征信息，確定在所述N個采樣時刻下所述M個傳感器單元對應的N個狀態序列，包括：

所述電子設備根據所述特征信息中的傳感器單元的標識，確定每個傳感器組中的傳感器單元的傳感器數據；

針對所述N個采樣時刻的任意一個采樣時刻：所述電子設備將所述L個傳感器組中的傳感器單元的傳感器數據與預設閾值進行比較，根據比較結果確定所述L個傳感器組的狀態；生成在所述采樣時刻M個傳感器單元對應的狀態序列，所述狀態序列包括所述L個傳感器組的狀態。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述電子設備將所述L個傳感器組中的傳感器單元的傳感器數據與預設閾值進行比較，根據比較結果確定所述L個傳感器組的狀態，包括：

針對所述L個傳感器組中的第一傳感器組，所述第一傳感器組為所述L個傳感器組中的任意一個：

當所述第一傳感器組中有檢測值的傳感器單元的占比大于第一閾值時，所述電子設備確定所述第一傳感器組的狀態為有效狀態，否則為無效狀態，所述占比為有檢測值的傳感器單元的總數U與所述第一傳感器組的傳感器單元總數V之間的比值；

和/或，當所述第一傳感器組中的傳感器單元的檢測值大于第二閾值時，所述電子設備確定所述第一傳感器組的狀態為有效狀態，否則為無效狀態。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，當所述N大于1時，所述電子設備將所述N個狀態序列與預設的參考狀態序列集合中的K個參考狀態序列進行匹配，從所述K個參考狀態序列中確定相似度最大的第一參考狀態序列，包括：

針對所述N個狀態序列中任意一個狀態序列：所述電子設備計算所述狀態序列與K個參考狀態序列之間的K個相似度，并從K個相似度中確定相似度最大的一個參考狀態序列；

所述電子設備從N個狀態序列對應的N個參考狀態序列中，確定出現次數最多的參考狀態序列作為所述第一參考狀態序列。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述電子設備計算所述N個狀態序列與K個參考狀態序列之間的相似度，包括：

所述電子設備計算所述N個狀態序列中關鍵傳感器組對應的狀態與K個參考狀態序列中關鍵傳感器組對應的狀態之間的相似度，所述關鍵傳感器組為所述L個傳感器組中的傳感器組。

6.根據權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，所述電子設備根據所述N個狀態序列，對所述預設的參考狀態序列集合中的參考狀態序列進行更新，包括：

所述電子設備從所述N個狀態序列中，確定與所述第一參考狀態序列之間相似度大于第三閾值且出現次數最多的第一狀態序列；

所述電子設備將所述預設的參考狀態序列集合中的所述第一參考狀態序列替換為所述第一狀態序列。