[發明專利]數據處理裝置、數據處理方法以及存儲介質

有效

• 申請號: 202010084074.3
• 申請日: 2020-02-10
• 公開（公告）號: CN111561871B
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: 尾上太郎
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 韓鋒

本發明的目的在于簡單且低成本地進行兩個線傳感器的校準。將測量對象的形狀作為二維坐標上的測量數據測量的第一線傳感器(10A)所測量的第一坐標平面與第二線傳感器(10B)所測量的第二坐標平面相同或平行。數據處理裝置在使表面與第一坐標平面和第二坐標平面正交配置的基準平面板(20)以與第一坐標平面和第二坐標平面正交的軸為中心進行了旋轉的彼此不同的兩個以上的位置，從第一線傳感器(10A)和第二線傳感器(10B)獲取測量數據，基于在各位置從第一線傳感器(10A)和第二線傳感器(10B)獲取的測量數據，計算第一坐標平面與第二坐標平面的同一坐標軸之間的角度、以及第一坐標平面的原點與第二坐標平面的原點的相對位置。

技術領域

本發明涉及數據處理裝置、數據處理方法以及存儲介質。

背景技術

在電子照相式圖像形成裝置中，通過使帶電的感光體曝光來形成靜電潛像，通過顯影輥向感光體上的靜電潛像供給調色劑來進行顯影，從而形成調色劑像。由于在圖像形成裝置的內部配置的感光體與顯影輥的距離與顯影濃度直接相關，所以需要高精度地進行測量、調節。

以往，通過向感光體與顯影輥之間照射具有一定寬度的激光，對在感光體與顯影輥之間通過的光的寬度進行測量，從而測量感光體與顯影輥的距離。

但是，在相對于感光體設置兩個顯影輥的情況下，由于顯影輥之間的空間上的問題等，不能對在感光體與顯影輥之間通過的光進行測量，因而不能利用現有的距離測量方法。因此，在對兩物體間的距離進行測量時，可以使用以下方法：通過兩個線傳感器分別測量兩物體的表面形狀(位置)，將由各線傳感器得到的測量數據在同一坐標系中進行處理(立體校準；Stero Calibration)。通過將從一方的線傳感器得到的感光體的表面形狀和從另一方的線傳感器得到的顯影輥的表面形狀在同一坐標系中表示，能夠計算出感光體與顯影輥的距離。

另外，提出了一種通過兩臺線傳感器攝像機對白色區域與黑色區域交替配置的校準標記進行拍攝，從而進行線傳感器攝像機的校準的裝置(參照專利文獻1)。

專利文獻1：日本特開2017-161245號公報

發明內容

發明所要解決的技術問題

但是，將由兩個線傳感器得到的測量數據在同一坐標系中進行處理時，需要使用已知絕對坐標的標記，因而難以簡單且低成本地進行校準。

本發明是鑒于上述現有技術中的問題而做出的，目的在于簡單且低成本地進行兩個線傳感器的校準。

用于解決技術問題的技術方案

為了解決上述問題，技術方案1所述的發明為數據處理裝置，該數據處理裝置對將測量對象的形狀作為二維坐標上的測量數據而測量的第一線傳感器和第二線傳感器所獲取的測量數據進行處理，該數據處理裝置的特征在于，由所述第一線傳感器測量的第一坐標平面與由所述第二線傳感器測量的第二坐標平面相同或平行，具備：獲取部，其在使表面與所述第一坐標平面和所述第二坐標平面正交配置的基準平面板以與所述第一坐標平面和所述第二坐標平面正交的軸為中心而進行了旋轉的彼此不同的兩個以上的位置，從所述第一線傳感器和所述第二線傳感器獲取測量數據；計算部，其基于在所述基準平面板的所述兩個以上的位置從所述第一線傳感器和所述第二線傳感器獲取的測量數據，計算所述第一坐標平面與所述第二坐標平面的同一坐標軸之間的角度、以及所述第一坐標平面的原點與所述第二坐標平面的原點的相對位置。