[發明專利]物體檢測裝置

在審

• 申請號: 202010082182.7
• 申請日: 2020-02-07
• 公開（公告）號: CN111551939A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 三輪修靖;冢尾公祐;中垣薰;神谷翼
• 申請（專利權）人: 愛信精機株式會社
• 主分類號: G01S15/08
• 分類號: G01S15/08;G01S15/931
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 劉煜

本發明提供一種提高物體位置計算的精度的物體檢測裝置。實施方式的物體檢測裝置，例如，具備：距離處理部，在第一收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據第一收發部的接收結果和第二收發部的接收結果來計算出第一點，在第二收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據第一收發部的接收結果和第二收發部的接收結果來計算出第二點，并且該距離處理部計算出第一點和第二點的間隔距離；位置計算部，該位置計算部根據第一點和第二點來計算出物體的位置；反射強度處理部，該反射強度處理部計算出表示第一收發部和第二收發部接收到的探測波的強度的反射強度；以及位置校正部，該位置校正部校正物體的位置。

技術領域

本發明的實施方式涉及一種物體檢測裝置。

背景技術

以往，存在如下技術：將超聲波等探測波發送到物體，接收由物體反射的探測波并進行運算，由此計算出物體的位置。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利第4880712號公報

專利文獻2：日本特開平7-92263號公報

發明所要解決的技術問題

但是，在現有技術中，根據物體的位置，存在位置計算的精度低的問題。

發明內容

因此，本發明的課題之一是提供一種能夠提高物體位置計算的精度的物體檢測裝置。

用于解決技術問題的手段

本發明的實施方式的物體檢測裝置例如具備：第一收發部和第二收發部，該第一收發部和該第二收發部在水平方向上隔開規定距離地配置，并且該第一收發部和該第二收發部發送探測波，且接收由物體反射的所述探測波；以及處理部，該處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算物體的位置，所述處理部具備：距離處理部，在所述第一收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算出第一點，在所述第二收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算出第二點，并且該距離處理部計算出第一點和第二點的間隔距離；位置計算部，該位置計算部根據所述第一點和所述第二點來計算出物體的位置；反射強度處理部，該反射強度處理部計算出反射強度，該反射強度表示所述第一收發部和所述第二收發部接收到的所述探測波的強度；以及位置校正部，該位置校正部根據所述間隔距離和所述反射強度來校正物體的位置。根據該結構，能夠提高物體位置計算的精度。具體而言，能夠根據第一點與第二點的間隔距離和探測波的反射強度，適當地校正計算出的物體位置。

另外，在上述物體檢測裝置中，例如，所述距離處理部判定所述間隔距離是否在規定的間隔距離閾值以上，所述反射強度處理部判定所述反射強度是否在規定的反射強度閾值以上，在所述距離處理部的判定結果中所述間隔距離為規定的間隔距離閾值以上、且所述反射強度處理部的判定結果中所述反射強度小于規定的反射強度閾值的情況下，所述位置校正部校正所述物體的位置，以使距所述物體的距離變小。根據該結構，即使在對象物體在水平方向上較長且位于偏離探測波的中心線的位置的情況下，也能夠高精度地計算出物體位置。具體而言，在第一點與第二點的間隔距離大且反射強度弱的情況下，由于將物體位置計算得比實際遠的可能性高，所以能夠適當地校正該物體位置。

另外，在上述物體檢測裝置中，例如，所述第一收發部和所述第二收發部配置于進行開閉動作的開閉部，所述物體檢測裝置還具備：存儲部，該存儲部存儲所述開閉部的開閉軌跡數據；以及碰撞判定部，該碰撞判定部根據所述物體的位置和所述開閉軌跡數據，判定在所述開閉部進行了開閉動作的情況下是否與所述物體碰撞。根據該結構，能夠高精度地判定在開閉部進行了開閉動作的情況下是否與物體碰撞。