[發明專利]物體檢測裝置

在審

• 申請號: 202010082182.7
• 申請日: 2020-02-07
• 公開（公告）號: CN111551939A
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 三輪修靖;冢尾公祐;中垣薰;神谷翼
• 申請（專利權）人: 愛信精機株式會社
• 主分類號: G01S15/08
• 分類號: G01S15/08;G01S15/931
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 劉煜

1.一種物體檢測裝置，其中，具備：

第一收發部和第二收發部，該第一收發部和該第二收發部在水平方向上隔開規定距離地配置，并且該第一收發部和該第二收發部發送探測波，且接收由物體反射的所述探測波；以及

處理部，該處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算物體的位置，

所述處理部具備：

距離處理部，在所述第一收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算出第一點，在所述第二收發部發送了探測波的情況下，該距離處理部根據所述第一收發部的接收結果和所述第二收發部的接收結果來計算出第二點，并且該距離處理部計算出所述第一點和所述第二點的間隔距離；

位置計算部，該位置計算部根據所述第一點和所述第二點來計算出所述物體的位置；

反射強度處理部，該反射強度處理部計算出反射強度，該反射強度表示所述第一收發部和所述第二收發部接收到的所述探測波的強度；以及

位置校正部，該位置校正部根據所述間隔距離和所述反射強度來校正所述物體的位置。

2.根據權利要求1所述的物體檢測裝置，其中，

所述距離處理部判定所述間隔距離是否在規定的間隔距離閾值以上，

所述反射強度處理部判定所述反射強度是否在規定的反射強度閾值以上，

在所述距離處理部的判定結果中所述間隔距離為規定的間隔距離閾值以上、且所述反射強度處理部的判定結果中所述反射強度小于規定的反射強度閾值的情況下，所述位置校正部校正所述物體的位置，以使距所述物體的距離變小。

3.根據權利要求1所述的物體檢測裝置，其中，

所述第一收發部和所述第二收發部配置于進行開閉動作的開閉部，

所述物體檢測裝置還具備：

存儲部，該存儲部存儲所述開閉部的開閉軌跡數據；以及

碰撞判定部，該碰撞判定部根據所述物體的位置和所述開閉軌跡數據，判定在所述開閉部進行了開閉動作的情況下是否與所述物體碰撞。

4.根據權利要求1所述的物體檢測裝置，其中，

所述反射強度處理部根據規定的環境條件，將所述反射強度校正為所述環境條件為標準狀態時的反射強度。