[發明專利]監測液晶精度的方法、重力感應機臺及存儲介質

在審

• 申請號: 202010081973.8
• 申請日: 2020-02-06
• 公開（公告）號: CN111272455A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 張隆賢
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00;G01G19/62
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

本發明提供一種監測液晶精度的方法、重力感應機臺及存儲介質，通過機臺表面安裝多個重量傳感器，并通過真空吸盤吸附基板使基板充分接觸重量傳感器，重力感應機臺檢測液晶滴入前后基板重量的數據變化，通過比較基板上前后的重量數據差值，與預先設置的液晶精度進行比較，進而可以判斷制程中液晶量是否符合標準，并且可以在超出預設閾值之后，可以發送警示信號，進而可以及時攔截該基板，避免造成更大的損失。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種監測液晶精度的方法、重力感應機臺及存儲介質。

背景技術

液晶顯示屏制程中，成盒工藝中使用液晶滴下機將液晶滴在TFT或CF基板上，為確保顯示效果，液晶量需要經過精密的天平計量調整液晶滴下量，確保按照要求重量進行滴下，保證在TFTCF基板貼合后得到穩定的盒厚。

液晶滴下機的核心部件為液晶頭，液晶頭主要組成包括液晶瓶(內有液晶)，filter(過濾作用)，Tank(存儲液晶)，氣壓閥(控制液晶管路通閉)，導管(液晶輸送)，IJPNozzle(液晶精準滴下)，加熱器(對液晶加熱，降低液晶粘度)，電壓控制器，這些部件的協同作用保證了整個液晶的滴下控制，其中加熱器和電壓控制器對液晶的滴下精度起著關鍵性作用。

現有對液晶實際滴下量的監控是靠天平系統，每次開始生產前使用天平對液晶滴下系統的精度進行確認，滿足±0.2％的誤差范圍判定進行生產，生產過程中會每隔20sheet/40sheet/100sheet再進行精度確認，判定是否需要再進行校正操作。這種監控方式并不能有效監控實際滴在當片基板上的液晶量，只能依靠設備的精準度進行判定，若天平系統或控制滴下系統出現異常很難在第一時間發現滴下量的異常變化，從而造成產品因滴入異常的液晶量影響產品品質。

發明內容

本發明的目的是提供一種監測液晶精度的方法、重力感應機臺及存儲介質，用以解決液晶滴下精度不準導致經濟損失的問題。

為了達到上述目的，本發明提供一種監測液晶精度的方法，包括：數據庫建立步驟，獲取一基板的第一重量數據以及第二重量數據并存入數據庫中，所述第一重量數據為所述基板的初始的重量數據，所述第二重量數據為所述基板經過滴落液晶制程后的重量數據；采集步驟，從所述數據庫中采集所述第一重量數據以及所述第二重量數據；比對步驟，將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與一預設閾值進行比對。

進一步地，所述比對步驟中，需要判斷所述差值是否超過一預設閾值，若所述差值超過所述預設閾值，則攔截所述基板。

進一步地，發送步驟，將所述第一重量數據和所述第二重量數據發送至計算機中。

本發明提供一種重力感應機臺，包括：框架；若干重量傳感器，所述重量傳感器陣列式安裝在所述框架上，用來感應一基板的重量；以及控制系統，連接至所述重量傳感器，用以獲得所述基板的第一重量數據以及第二重量數據，并將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與一預設閾值進行比對；其中所述第一重量數據為所述基板的初始的重量數據，所述第二重量數據為所述基板經過滴落液晶制程后的重量數據。

進一步地，所述控制系統包括：數據庫建立單元，用以獲取所述基板的所述第一重量數據以及所述第二重量數據并存入數據庫中；采集單元，用以從所述數據庫中采集所述第一重量數據以及所述第二重量數據；比對單元，用以將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與一預設閾值進行比對。

進一步地，所述重量傳感器通過第一安裝條安裝于所述框架上。

進一步地，還包括：若干真空吸盤，安裝于所述框架上；所述真空吸盤通過第二安裝條安裝于所述框架上，所述第一安裝條與所述第二安裝條相互平行。

進一步地，所述控制系統還包括有一控制單元，用來判斷所述差值是否超過一預設閾值，若所述差值超過所述預設閾值，則攔截該基板。