[發明專利]監測液晶精度的方法、重力感應機臺及存儲介質

在審

• 申請號: 202010081973.8
• 申請日: 2020-02-06
• 公開（公告）號: CN111272455A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 張隆賢
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00;G01G19/62
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

1.一種監測液晶精度的方法，其特征在于，包括：

數據庫建立步驟，獲取一基板的第一重量數據以及第二重量數據并存入數據庫中，所述第一重量數據為所述基板的初始的重量數據，所述第二重量數據為所述基板經過滴落液晶制程后的重量數據；

采集步驟，從所述數據庫中采集所述第一重量數據以及所述第二重量數據；

比對步驟，將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與一預設閾值進行比對。

2.如權利要求1所述的監測液晶精度的方法，其特征在于，

所述比對步驟中，需要判斷所述差值是否超過所述預設閾值，若所述差值超過所述預設閾值，則攔截所述基板。

3.如權利要求2所述的監測液晶精度的方法，其特征在于，在所述比對步驟之后，還包括：

發送步驟，將所述第一重量數據和所述第二重量數據發送至計算機中。

4.一種重力感應機臺，其特征在于，包括：

框架；

若干重量傳感器，所述重量傳感器陣列式安裝在所述框架上，用來感應一基板的重量；以及

控制系統，連接至所述重量傳感器，用以獲得所述基板的第一重量數據以及第二重量數據，并將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與一預設閾值進行比對；其中所述第一重量數據為所述基板的初始的重量數據，所述第二重量數據為所述基板經過滴落液晶制程后的重量數據。

5.如權利要求4所述的重力感應機臺，其特征在于，

所述控制系統包括：

數據庫建立單元，用以獲取所述基板的所述第一重量數據以及所述第二重量數據并存入數據庫中；

采集單元，用以從所述數據庫中采集所述第一重量數據以及所述第二重量數據；

比對單元，用以將所述第一重量數據與所述第二重量數據差值與所述預設閾值進行比對。

6.如權利要求4所述的重力感應機臺，其特征在于，

所述重量傳感器通過第一安裝條安裝于所述框架上。

7.如權利要求6所述的重力感應機臺，其特征在于，還包括：若干真空吸盤，安裝于所述框架上；

所述真空吸盤通過第二安裝條安裝于所述框架上，所述第一安裝條與所述第二安裝條相互平行。

8.如權利要求5所述的重力感應機臺，其特征在于，

所述控制系統還包括有一控制單元，用來判斷所述差值是否超過所述預設閾值，若所述差值超過所述預設閾值，則攔截該基板。

9.如權利要求8所述的重力感應機臺，其特征在于，

所述控制系統還能夠將所述第一重量數據與所述第二重量數據發送至計算機中。

10.一種存儲介質，該存儲介質上存儲有計算機程序，在控制系統執行所述計算機程序時可實現權利要求1～3中任一項所述的方法。