[發明專利]傾斜檢測裝置、讀取裝置、圖像處理裝置及傾斜檢測方法

有效

• 申請號: 202010076189.8
• 申請日: 2020-01-23
• 公開（公告）號: CN111510573B
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 塚原元;白土寬貴;橋本步;中田祐貴;小野智彥;尾崎達也;久保宏;長尾佳明;柳澤公治;伊藤昌弘
• 申請（專利權）人: 株式會社理光
• 主分類號: H04N1/00
• 分類號: H04N1/00;H04N1/04;H04N1/387
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 安之斐

本發明涉及的傾斜檢測裝置、讀取裝置、圖像處理裝置及傾斜檢測方法用于提高電子偏斜校正精度。包括有第1邊界檢測部，其檢測在背景構件成為背景的攝像位置處由攝像部拍攝到的檢測對象物的圖像即圖像信息中的所述背景構件與所述檢測對象物的陰影之間的邊界；第2邊界檢測部，其檢測所述圖像信息中的所述檢測對象物的陰影與所述檢測對象物之間的邊界，和傾斜檢測部，其從由所述第1邊界檢測部和所述第2邊界檢測部分別檢測出的邊界，來檢測所述圖像信息中的所述檢測對象物的傾斜。

技術領域

本發明涉及傾斜檢測裝置、讀取裝置、圖像處理裝置及傾斜檢測方法。

背景技術

以往所知的電子偏斜校正技術是根據從自動原稿傳送裝置(ADF:Auto DocumentFeeder)的讀取圖像檢測到的偏斜角度及對位位置，通過圖像處理來對ADF讀取時的原稿偏斜及主副對位偏差進行校正的。

在專利文獻1中公開的技術是，在電子偏斜校正時，在檢測上邊邊緣之前通過檢測原稿的兩邊的縱向邊緣來確定上邊邊緣的檢測范圍，并在該檢測范圍內檢測原稿邊緣。

然而，這里會存在著陰影容易受到原稿狀態(折彎、卷曲等)的影響、原稿容易受到原稿的顏色或濃度的影響(沒有與背景、陰影之間的差就不能檢測)的問題。

因此，根據專利文獻1所公開的技術，會存在著因為這些影響導致不能獲得原稿輪廓的檢測精度，因為偏斜量和對位量的檢測錯誤而進行了錯誤的電子偏斜校正的問題。

本發明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提高電子偏斜校正精度。

【專利文獻1】(日本)特開2017-092562號公報

發明內容

為了解決上述問題，實現目的，本發明的特征在于，包括有第1邊界檢測部，其檢測在背景構件成為背景的攝像位置處由攝像部拍攝到的檢測對象物的圖像即圖像信息中的所述背景構件與所述檢測對象物的陰影之間的邊界；第2邊界檢測部，其檢測所述圖像信息中的所述檢測對象物的陰影與所述檢測對象物之間的邊界，和傾斜檢測部，其從由所述第1邊界檢測部和所述第2邊界檢測部分別檢測出的邊界，來檢測所述圖像信息中的所述檢測對象物的傾斜。

根據本發明，具有能夠提高電子偏斜校正精度的效果。

附圖說明

圖1所示是第1實施方式涉及的圖像處理裝置的概要構成的模式化的剖視圖。

圖2所示是掃描儀的概要構成的模式化的剖視圖。

圖3所示是ADF的概要構成的模式化的剖視圖。

圖4所示是原稿的讀取位置附近的結構的模式化圖。

圖5所示是圖像處理裝置的硬件構成的框圖。

圖6所示是圖像處理部的功能的框圖。

圖7所示是圖像數據的一個例示圖。

圖8所示是從圖像數據檢測傾斜量的一個例示圖。

圖9所示是各原稿尺寸的傾斜量檢測區域的切換例示圖。

圖10所示是概略地表示圖像讀取處理的流程的流程圖。

圖11所示是在副掃描方向上在規定的行數以內能夠檢測原稿陰影和原稿的邊界時的圖。

圖12所示是在副掃描方向上在規定的行數以內不能夠檢測原稿陰影和原稿的邊界時的圖。

圖13所示是第2實施方式所涉及的從圖像數據檢測傾斜量的一個例示圖。

圖14所示是第3實施方式所涉及的圖像處理部的功能框圖。

圖15所示是從圖像數據檢測傾斜量的一個例示圖。