[發(fā)明專(zhuān)利]傳送帶的出料檢測(cè)方法及設(shè)備、電路和介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010070973.8
• 申請(qǐng)日: 2020-01-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111291654B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周驥;莊捍衛(wèi);馮歆鵬
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海肇觀電子科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06V20/52
• 分類(lèi)號(hào): G06V20/52;G06V10/75
• 代理公司: 北京市漢坤律師事務(wù)所 11602
• 代理人: 魏小薇;吳麗麗

1.一種傳送帶的出料檢測(cè)方法，包括：

獲取第一時(shí)刻傳送帶上的物料的第一圖像，以及第二時(shí)刻傳送帶上的物料的第二圖像；

對(duì)所述第一圖像和所述第二圖像進(jìn)行匹配運(yùn)算，得到與所述第一圖像中的第一匹配圖片相匹配的所述第二圖像中的第二匹配圖片；以及

根據(jù)所述第一匹配圖片在所述第一圖像中的第一位置和所述第二匹配圖片在所述第二圖像中的第二位置，計(jì)算所述第一時(shí)刻與所述第二時(shí)刻之間的出料參數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的出料檢測(cè)方法，還包括：

獲取所述第一時(shí)刻之前傳送帶上的物料的整體圖像；

其中，根據(jù)所述第一匹配圖片在所述第一圖像中的第一位置和所述第二匹配圖片在所述第二圖像中的第二位置，計(jì)算所述第一時(shí)刻與所述第二時(shí)刻之間的出料參數(shù)包括：

根據(jù)所述第一位置和所述第二位置，從所述整體圖像中獲取輸出物料圖像，所述輸出物料圖像為所述第一時(shí)刻與所述第二時(shí)刻之間從出料口輸出的一段物料的圖像；以及

根據(jù)所述輸出物料圖像的圖像特征計(jì)算所述第一時(shí)刻與所述第二時(shí)刻之間的出料參數(shù)。

3.如權(quán)利要求2所述的出料檢測(cè)方法，其中，在所述第一時(shí)刻之前所述傳送帶為停止出料狀態(tài)，所述整體圖像為所述第一時(shí)刻傳送帶上的所有物料的圖像；

所述輸出物料圖像為所述整體圖像中的對(duì)應(yīng)出料口處的一段圖像。

4.如權(quán)利要求1所述的出料檢測(cè)方法，其中，所述第一圖像和第二圖像為傳送帶上的不同區(qū)域內(nèi)的物料的圖像；

根據(jù)所述第一匹配圖片在所述第一圖像中的第一位置和所述第二匹配圖片在所述第二圖像中的第二位置，計(jì)算第一時(shí)刻與第二時(shí)刻之間的出料參數(shù)包括：

根據(jù)所述第一匹配圖片在所述第一圖像中的第一位置和所述第二匹配圖片在所述第二圖像中的第二位置以及拍攝第一圖像的攝像機(jī)的位置和拍攝第二圖像的攝像機(jī)的位置，計(jì)算第一時(shí)刻與第二時(shí)刻之間的出料參數(shù)。

5.如權(quán)利要求1～4中任一項(xiàng)所述的出料檢測(cè)方法，其中，所述出料參數(shù)包括出料體積。

6.一種傳送帶的出料檢測(cè)方法，包括：

獲取第一出料狀態(tài)傳送帶上的所有物料的第一圖像，獲取第二出料狀態(tài)傳送帶上的所有物料的第二圖像，所述第一圖像和所述第二圖像均為包括物料的深度數(shù)據(jù)的深度圖像；

根據(jù)對(duì)應(yīng)的深度數(shù)據(jù)，計(jì)算所述第一圖像中的所有物料的第一體積和所述第二圖像中的所有物料的第二體積；以及

計(jì)算所述第一體積和所述第二體積之間的差值以獲得所述第一出料狀態(tài)與所述第二出料狀態(tài)之間的出料體積。

7.一種電子電路，包括：

被配置為執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1～6中任一項(xiàng)所述的出料檢測(cè)方法的步驟的電路。

8.一種傳送帶的出料檢測(cè)設(shè)備，包括：

權(quán)利要求7所述的電子電路；

攝像機(jī)，被配置為拍攝傳送帶上的物料的圖像；以及

傳送帶，所述傳送帶的一端位于出料口的上方，所述傳送帶被配置為將物料出料口輸出。

9.一種電子設(shè)備，包括：

處理器；以及

存儲(chǔ)程序的存儲(chǔ)器，所述程序包括指令，所述指令在由所述處理器執(zhí)行時(shí)使所述處理器執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1～6中任一項(xiàng)所述的出料檢測(cè)方法。

10.一種存儲(chǔ)程序的非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述程序包括指令，所述指令在由出料檢測(cè)設(shè)備的處理器執(zhí)行時(shí)，致使所述電子設(shè)備執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1～6中任一項(xiàng)所述的出料檢測(cè)方法。