[發明專利]鍍銅焊絲的缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010067244.7
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN110866920B
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 王翔;潘一瀟;洪新東;劉裕來;鄒湘衡
• 申請（專利權）人: 長沙琢冶信息技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G01N21/88
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

在鍍銅焊絲繞盤時，實時采集所述鍍銅焊絲在紅外光線照射下的繞盤圖像；

將所述繞盤圖像進行灰度化處理，獲得灰度圖像；

識別所述鍍銅焊絲在灰度圖像中成像區域的邊緣線，根據所述邊緣線在所述灰度圖像中劃定感興趣區域，其中，所述感興趣區域為所述灰度圖像中僅僅包含所述鍍銅焊絲的區域；

判斷所述感興趣區域內是否存在像素值小于預設像素值的像素區域，若是，則輸出所述鍍銅焊絲存在青黑絲缺陷的結果。

2.如權利要求1所述的鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述邊緣線在所述灰度圖像中劃定感興趣區域包括：

根據所述邊緣線在所述灰度圖像中的位置，確定絲盤上的所述鍍銅焊絲的纏繞層數；

根據所述纏繞層數在預先設定的多個不同大小的感興趣區域中選定對應的感興趣區域的大小，其中，所述感興趣區域的大小隨著所述纏繞層數的增大而增加。

3.如權利要求2所述的鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，在根據所述邊緣線在所述灰度圖像中劃定感興趣區域之后，還包括：

根據所述纏繞層數，在預先設定的多個亮度補償倍數中查找對應的亮度補償倍數；

將所述感興趣區域中的各個像素點的像素值均擴大所述亮度補償倍數倍，再執行判斷所述感興趣區域內是否存在像素值小于預設像素值的像素區域的操作。

4.如權利要求3所述的鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，所述預先設定的多個亮度補償倍數獲得過程包括：

預先分別采集所述絲盤上僅纏繞一層鍍銅焊絲和所述絲盤繞滿鍍銅焊絲在紅外光照下的第一纏繞圖像和第二纏繞圖像；

分別在所述第一纏繞圖像和所述第二纏繞圖像中劃分出第一感興趣區域和第二感興趣區域；

將所述第二纏繞圖像進行縮小處理，使得所述第二感興趣區域的尺寸大小等于所述第一感興趣區域的大小；

計算所述第一感興趣區域和所述第二感興趣區域中同一位置像素點的像素值比，并獲得各個位置所述像素點的像素值比的比值平均值；

根據所述比值平均值和所述絲盤的最大纏繞層數，設定各層所述纏繞層數對應的所述亮度補償倍數隨著纏繞層數的增大而遞減，且所述亮度補償倍數大于等于1，小于等于所述比值平均值。

5.如權利要求1所述的鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，所述輸出所述鍍銅焊絲存在青黑絲缺陷的結果包括：

當存在像素值小于所述預設像素值的像素點區域時，判斷所述像素點區域是否屬于絲盤上相鄰兩層鍍銅焊絲的纏繞層交界區域的對應的像素點區域，若否，則輸出存在青黑絲缺陷的結果。

6.如權利要求1至5任一項所述的鍍銅焊絲的缺陷檢測方法，其特征在于，在根據所述邊緣線在所述灰度圖像中劃定感興趣區域之后，還包括：

運算獲得所述感興趣區域中同一圈鍍銅焊絲的像素區域對應的各個像素點的像素平均值；

所述判斷所述感興趣區域內是否存在像素值小于預設像素值的像素區域包括：

判斷各圈鍍銅焊絲的像素區域中是否存在對應的所述像素平均值小于所述預設像素值的同一圈鍍銅焊絲的像素區域。

7.一種鍍銅焊絲的缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像采集模塊，用于在鍍銅焊絲繞盤時，實時采集所述鍍銅焊絲在紅外光線照射下的繞盤圖像；

灰度處理模塊，用于將所述繞盤圖像進行灰度化處理，獲得灰度圖像；

區域劃定模塊，用于識別所述鍍銅焊絲在灰度圖像中成像區域的邊緣線，根據所述邊緣線在所述灰度圖像中劃定感興趣區域，其中，所述感興趣區域為所述灰度圖像中僅僅包含所述鍍銅焊絲的區域；

判斷模塊，用于判斷所述感興趣區域內是否存在像素值小于預設像素值的像素區域，若是，則輸出所述鍍銅焊絲存在青黑絲缺陷的結果。