[發(fā)明專利]轉(zhuǎn)盤測試設備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010066283.5
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN111229640A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設計）人: 包克兵;趙繼偉
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門弘信電子科技集團股份有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B41K3/04
• 代理公司: 北京康盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11331
• 代理人: 梁錦平

本發(fā)明公開了一種轉(zhuǎn)盤測試設備，其包括轉(zhuǎn)盤測試機構(gòu)及收料擺盤機構(gòu)；轉(zhuǎn)盤測試機構(gòu)包括基座箱、工作臺、旋轉(zhuǎn)電機模組、多工位轉(zhuǎn)盤、第一壓床組件、第二壓床組件、第一承載組件、第二承載組件、下治具、測試治具及標識模組或第二測試治具；收料擺盤機構(gòu)包括有底座、控制箱、移動模組、擺盤托板、真空收料組件及不良品盒，其中，第一壓床組件與測試治具組合形成測試功能模塊，第二壓床組件與標識模組組合形成標識功能模塊，第二壓床模組與第二測試治具組合形成第二測試功能模塊，依產(chǎn)品更換測試治具或標識模組即可，可以靈活切換適用于測試+標識產(chǎn)品制作、一次測試+二次測試產(chǎn)品制作這兩種情況，實現(xiàn)設備多功能化，減少固定資產(chǎn)投入。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路板檢測設備的技術(shù)領(lǐng)域，特別是指一種轉(zhuǎn)盤測試設備。

背景技術(shù)

印制電路板出貨前需要進行功能測試，依客戶要求，部分型號產(chǎn)品需針對測試OK(合格)品做標識，以防止NG(不合格)品流出到客戶端，部分型號產(chǎn)品無標識要求，但功能測試無法集成到一測試治具測試，需分兩個測試治具二次測試。現(xiàn)有自動轉(zhuǎn)盤測試設備功能為：CCD相機對位、測試、翻轉(zhuǎn)、標識和擺盤收料，測試為單次功能測試，如產(chǎn)能擴充，如增加同類設備數(shù)量，固定資產(chǎn)投入高，而且僅適合一次測試+標識的產(chǎn)品，如針對需兩次測試的產(chǎn)品，測試完第一次后，更換治具再次測試，占用設備且生產(chǎn)效率低，因此，需開發(fā)出一種小型成本低的轉(zhuǎn)盤測試設備以適用以上兩種情況產(chǎn)品測試。

有鑒于此，本設計人針對現(xiàn)有自動轉(zhuǎn)盤測試設備的結(jié)構(gòu)設計上和功能方面未臻完善所導致的諸多缺失與不便深入構(gòu)思，且積極研究改良試做而開發(fā)設計出本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種可依產(chǎn)品需求更換測試治具或標識模組，靈活切換適用于測試+標識產(chǎn)品制作、一次測試+二次測試產(chǎn)品兩種情況，實現(xiàn)設備多功能化，減少固定資產(chǎn)投入的轉(zhuǎn)盤測試設備。

為了達成上述目的，本發(fā)明的解決方案是：

一種轉(zhuǎn)盤測試設備，包括轉(zhuǎn)盤測試機構(gòu)及收料擺盤機構(gòu)；

轉(zhuǎn)盤測試機構(gòu)包括基座箱、工作臺、旋轉(zhuǎn)電機模組、多工位轉(zhuǎn)盤、第一壓床組件、第二壓床組件、第一承載組件、第二承載組件、下治具、測試治具及標識模組或第二測試治具；工作臺設置在基座箱上，旋轉(zhuǎn)電機模組的輸出端貫穿設置在工作臺上，多工位轉(zhuǎn)盤設置在旋轉(zhuǎn)電機模組的輸出端，旋轉(zhuǎn)電機模組驅(qū)動多工位轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)動，所述多工位轉(zhuǎn)盤為圓盤形狀，多工位轉(zhuǎn)盤的前后左右四側(cè)分別鏤空設計，前側(cè)形成上料工位，左側(cè)形成測試工位，后側(cè)形成標識工位或第二測試工位，右側(cè)形成收料工位，所述第一壓床組件設置在工作臺上且位于多工位轉(zhuǎn)盤的左側(cè)，第二壓床組件設置在工作臺上且位于多工位轉(zhuǎn)盤的后側(cè)，四個下治具分別設置在多工位轉(zhuǎn)盤的上料工位、測試工位、標識工位或第二測試工位、及收料工位上，測試治具設置在第一壓床組件的活動端位置上，第一壓床組件帶動測試治具上下運動，標識模組或第二測試治具設置在第二壓床組件的活動端位置上，第二壓床組件帶動標識模組或第二測試治具上下運動，第一承載組件貫穿設置在工作臺上、位于多工位轉(zhuǎn)盤的對應第一壓床組件的一側(cè)下方位置，在執(zhí)行下壓測試時，第一承載組件上頂定位套置下治具，第二承載組件貫穿設置在工作臺上、位于多工位轉(zhuǎn)盤對應第二壓床組件一側(cè)的下方位置，在執(zhí)行標識或者二次測試時，第二承載組件上頂定位套置下治具。

收料擺盤機構(gòu)包括有底座、控制箱、X軸模組、Y軸模組、擺盤托板、真空收料組件及不良品盒，底座設置在轉(zhuǎn)盤測試機構(gòu)的多工位轉(zhuǎn)盤一側(cè)，Y軸模組縱向架設在底座上，Y軸模組的后端伸入控制箱架設在底座上，擺盤托板設置在Y軸模組的滑動塊上，擺盤托板上放置物料盤，Y軸模組帶動擺盤托板前后移動，X軸模組設置在控制箱的上方，真空收料組件設置在X軸模組的滑動塊上，不良品盒架設在底座上、位于擺盤托板的一側(cè)，不良品盒內(nèi)放置測試NG產(chǎn)品。