[發明專利]轉盤測試設備

在審

• 申請號: 202010066283.5
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN111229640A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 包克兵;趙繼偉
• 申請（專利權）人: 廈門弘信電子科技集團股份有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B41K3/04
• 代理公司: 北京康盛知識產權代理有限公司 11331
• 代理人: 梁錦平

1.一種轉盤測試設備，其特征在于：包括轉盤測試機構及收料擺盤機構；

轉盤測試機構包括基座箱、工作臺、旋轉電機模組、多工位轉盤、第一壓床組件、第二壓床組件、第一承載組件、第二承載組件、下治具、測試治具及標識模組或第二測試治具；工作臺設置在基座箱上，旋轉電機模組的輸出端貫穿設置在工作臺上，多工位轉盤設置在旋轉電機模組的輸出端，旋轉電機模組驅動多工位轉盤旋轉轉動，所述多工位轉盤為圓盤形狀，多工位轉盤的前后左右四側分別鏤空設計，前側形成上料工位，左側形成測試工位，后側形成標識工位或第二測試工位，右側形成收料工位，所述第一壓床組件設置在工作臺上且位于多工位轉盤的左側，第二壓床組件設置在工作臺上且位于多工位轉盤的后側，四個下治具分別設置在多工位轉盤的上料工位、測試工位、標識工位或第二測試工位、及收料工位上，測試治具設置在第一壓床組件的活動端位置上，第一壓床組件帶動測試治具上下運動，標識模組或第二測試治具設置在第二壓床組件的活動端位置上，第二壓床組件帶動標識模組或第二測試治具上下運動，第一承載組件貫穿設置在工作臺上、位于多工位轉盤的對應第一壓床組件的一側下方位置，在執行下壓測試時，第一承載組件上頂定位套置下治具，第二承載組件貫穿設置在工作臺上、位于多工位轉盤對應第二壓床組件的一側下方位置，在執行標識或者二次測試時，第二承載組件上頂定位套置下治具。

收料擺盤機構包括有底座、控制箱、X軸模組、Y軸模組、擺盤托板、真空收料組件及不良品盒，底座設置在轉盤測試機構的多工位轉盤一側，Y軸模組縱向架設在底座上，Y軸模組的后端伸入控制箱架設在底座上，擺盤托板設置在Y軸模組的滑動塊上，擺盤托板上放置物料盤，Y軸模組帶動擺盤托板前后移動，X軸模組設置在控制箱的上方，真空收料組件設置在X軸模組的滑動塊上，不良品盒架設在底座上、位于擺盤托板的一側，不良品盒內放置測試NG產品。

2.如權利要求1所述的轉盤測試設備，其特征在于：第一壓床組件包括龍門架、導柱、軸承、下壓支撐架及下壓氣缸；龍門架設置在工作臺上、位于多工位轉盤的左側，兩根導柱設置在龍門架下方兩側，兩根導柱的底端設置在工作臺上，頂端設置在龍門架下方，兩個軸承分別套置在兩根導柱上，下壓支撐架一側左右兩邊套置在兩個軸承上，下壓氣缸垂直貫穿設置在龍門架上，下壓氣缸的活動桿末端連接在下壓支撐架上，下壓氣缸帶動下壓支撐架沿導柱方向上下運動；第二壓床組件與第一壓床組件結構相同。

3.如權利要求1或2所述的轉盤測試設備，其特征在于：所述第一承載組件包括上頂氣缸、軸承、導柱、承載座、承載柱及定位銷；上頂氣缸倒置貫穿設置在工作臺上、位于多工位轉盤對應第一壓床模組的下方,兩個軸承套置在工作臺上、位于上頂氣缸的兩側，兩根導柱分別套置在兩個軸承內，承載座設置在上頂氣缸的活動桿頂端和兩根導柱的頂端上，多根承載柱分布設置在承載座上方，每根承載柱頂端設置有定位銷，上頂氣缸帶動承載座上下運動，使定位銷與下治具定位套置或分離；第二承載組件與第一承載組件結構相同。

4.如權利要求1所述的轉盤測試設備，其特征在于：所述真空收料組件包括有模組固定板、抓取氣缸、氣缸固定板、旋轉氣缸、吸盤、吸嘴及真空控制模組；模組固定板設置在X軸模組的滑動塊上，抓取氣缸設置在模組固定板上，氣缸固定板設置在抓取氣缸的活動桿末端，旋轉氣缸設置在氣缸固定板下方，吸盤設置在轉氣缸的活動桿末端，一個或多個吸嘴分布設置在吸盤下方，抓取氣缸帶動吸嘴上下運動，旋轉氣缸帶動吸嘴旋轉產品方向，真空控制模組設置在模組固定板上,真空控制模組控制吸嘴吸取產品或釋放產品。

5.如權利要求4所述的轉盤測試設備，其特征在于：所述真空控制模組包括有真空電磁閥、真空發生器及真空數顯；真空電磁閥、真空發生器分別設置在模組固定板上，真空電磁閥、真空發生器、真空數顯與多個吸嘴形成電氣路連接，真空電磁閥觸發或關閉真空發生器，真空發生器通過吸嘴抽真空吸取產品或釋放真空放置產品，真空數顯顯示和反饋真空度與真空電磁閥。

6.如權利要求1所述的轉盤測試設備，其特征在于：所述收料擺盤機構還包括有觸控屏，觸控屏設置控制箱的外側上。