[發明專利]一種X射線探測器的質量檢測裝置

在審

• 申請號: 202010058319.5
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111157546A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 蘇安鑫;石明坤;李宏
• 申請（專利權）人: 山西國芯科技有限公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01M13/00
• 代理公司: 北京同輝知識產權代理事務所(普通合伙) 11357
• 代理人: 楊敬

本發明公開一種X射線探測器的質量檢測裝置，包括抗擊打檢測模塊和抗摔檢測模塊。抗擊打檢測模塊包括底座、傳送帶、第一電機、第一氣缸、第一轉動桿、第一斜齒輪、第二電機、第二氣缸、第二轉動桿和第二斜齒輪；抗摔檢測模塊包括第一滑槽、第一絲杠、第三電機、第四電機、第二絲杠、第二滑槽、第三絲杠和第五電機。本發明設有抗擊打檢測模塊和抗摔檢測模塊，能對X射線探測器的質量進行自動檢驗，檢測效率高效快速，且檢驗成果對比性強；本發明具有良好的實用性，能廣泛應用于多種產品的質量檢測。解決了現有技術中人工檢測X射線探測器質量費時費力且效率慢的問題。

技術領域

本發明屬于X射線探測器領域，具體涉及一種X射線探測器的質量檢測裝置。

背景技術

X射線探測器是一種將X射線能量轉換為可供記錄的電信號的裝置。它接收到射線照射，然后產生與輻射強度成正比的電信號。通常探測器所接受到的射線信號的強弱，取決于該部位的人體截面內組織的密度。密度高的組織，例如骨骼吸收X射線較多，探測器接收到的信號較弱；密度較低的組織，例如脂肪等吸收X射線較少，探測器獲得的信號較強。

X射線探測器作為一種高精度儀器，其質量是十分重要的。在實際的生產中，對于X射線探測器成品往往需要進行質量檢測，現有的質量檢測大多是采用抽樣后人工進行檢測，這種方式費時費力，十分影響工作效率。現針對上述提出的問題，設計一種X射線探測器的質量檢測裝置，實現X射線探測器的自主質量檢測。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種X射線探測器的質量檢測裝置，解決了現有技術中人工檢測X射線探測器質量費時費力且效率慢的問題。

本發明的目的可以通過以下技術方案實現：

一種X射線探測器的質量檢測裝置，包括抗擊打檢測模塊和抗摔檢測模塊，所述抗摔檢測模塊置于抗擊打檢測模塊的一端。

所述抗擊打檢測模塊包括底座，所述底座上設有傳送帶，所述底座的一側設有第一支撐架，所述第一支撐架上設有第一電機，所述第一電機的輸出端連通底座并與傳送帶轉動連接。

所述底座的兩端設有第一立柱，兩個所述第一立柱之間設有第一轉動桿，所述第一轉動桿的一端貫穿一個所述第一立柱，所述第一轉動桿上設有第一斜齒輪。

被所述第一轉動桿貫穿的第一立柱的一側設有第三支撐架，所述第三支撐架上設有第二電機，所述第二電機與第一轉動桿通過皮帶轉動連接。

所述底座的兩端設有第二立柱，所述第二立柱上設有第二轉動桿，所述第二轉動桿的一端設有第二斜齒輪。

所述抗摔檢測模塊包括第一滑槽，所述第一滑槽內設有第一絲杠和第一基座，所述第一絲杠貫穿第一基座并與第一基座螺紋配合。

所述第一滑槽的一端設有第一底板，所述第一底板上設有第三電機，所述第三電機的輸出端連通第一滑槽并與第一絲杠固定連接。

所述第一基座上設有第二基座和第四電機，所述第二基座上設有第二絲杠，所述第二絲杠貫穿橫桿并與橫桿螺紋配合。

所述傳送帶的上方設有兩個第二支撐架，所述第二支撐架之間設有梯形架，所述梯形架上設有第一氣缸，所述第一氣缸的輸出端連通梯形架且第一氣缸的輸出端上設有捶打塊。

所述底座上設有第二氣缸，所述第二氣缸的輸出端上設有支撐板。

所述第二轉動桿上設有捶打臂。

所述第二基座上設有絲杠保護殼，所述第二絲杠置于絲杠保護殼內。

所述橫桿的兩端設有支撐桿。

所述第一滑槽置于底座的兩端，所述底座的另一端設有第二滑槽，所述第二滑槽內設有第三絲杠，所述第三絲杠貫穿豎桿并與豎桿螺紋配合。