[發明專利]一種X射線探測器的質量檢測裝置

在審

• 申請號: 202010058319.5
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111157546A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 蘇安鑫;石明坤;李宏
• 申請（專利權）人: 山西國芯科技有限公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01M13/00
• 代理公司: 北京同輝知識產權代理事務所(普通合伙) 11357
• 代理人: 楊敬

1.一種X射線探測器的質量檢測裝置，包括抗擊打檢測模塊(1)和抗摔檢測模塊(2)，其特征在于，所述抗摔檢測模塊(2)置于抗擊打檢測模塊(1)的一端；

所述抗擊打檢測模塊(1)包括底座(11)，所述底座(11)上設有傳送帶(12)，所述底座(11)的一側設有第一支撐架(13)，所述第一支撐架(13)上設有第一電機(14)，所述第一電機(14)的輸出端連通底座(11)并與傳送帶(12)轉動連接；

所述底座(11)的兩端設有第一立柱(19)，兩個所述第一立柱(19)之間設有第一轉動桿(110)，所述第一轉動桿(110)的一端貫穿一個所述第一立柱(19)，所述第一轉動桿(110)上設有第一斜齒輪(111)；

被所述第一轉動桿(110)貫穿的第一立柱(19)的一側設有第三支撐架(114)，所述第三支撐架(114)上設有第二電機(113)，所述第二電機(113)與第一轉動桿(110)通過皮帶(112)轉動連接；

所述底座(11)的兩端設有第二立柱(117)，所述第二立柱(117)上設有第二轉動桿(118)，所述第二轉動桿(118)的一端設有第二斜齒輪(119)；

所述抗摔檢測模塊(2)包括第一滑槽(21)，所述第一滑槽(21)內設有第一絲杠(22)和第一基座(23)，所述第一絲杠(22)貫穿第一基座(23)并與第一基座(23)螺紋配合；

所述第一滑槽(21)的一端設有第一底板(24)，所述第一底板(24)上設有第三電機(25)，所述第三電機(25)的輸出端連通第一滑槽(21)并與第一絲杠(22)固定連接；

所述第一基座(23)上設有第二基座(26)和第四電機(27)，所述第二基座(26)上設有第二絲杠(29)，所述第二絲杠(29)貫穿橫桿(210)并與橫桿(210)螺紋配合。

2.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述傳送帶(12)的上方設有兩個第二支撐架(15)，所述第二支撐架(15)之間設有梯形架(16)，所述梯形架(16)上設有第一氣缸(17)，所述第一氣缸(17)的輸出端連通梯形架(16)且第一氣缸(17)的輸出端上設有捶打塊(18)。

3.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述底座(11)上設有第二氣缸(115)，所述第二氣缸(115)的輸出端上設有支撐板(116)。

4.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述第二轉動桿(118)上設有捶打臂(120)。

5.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述第二基座(26)上設有絲杠保護殼(28)，所述第二絲杠(29)置于絲杠保護殼(28)內。

6.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述橫桿(210)的兩端設有支撐桿(211)。

7.根據權利要求1所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述第一滑槽(21)置于底座(11)的兩端，所述底座(11)的另一端設有第二滑槽(212)，所述第二滑槽(212)內設有第三絲杠(213)，所述第三絲杠(213)貫穿豎桿(214)并與豎桿(214)螺紋配合。

8.根據權利要求7所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述第二滑槽(212)的一端設有第二底板(216)，所述第二底板(216)上設有第五電機(215)，所述第五電機(215)的輸出端連通第二滑槽(212)并與第三絲杠(213)固定連接。

9.根據權利要求7所述的一種X射線探測器的質量檢測裝置，其特征在于，所述豎桿(214)的上端與連桿(217)固定連接，所述連桿(217)的一端與接盤(218)固定連接。