[發(fā)明專利]磁盤故障預(yù)測方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010054087.6
• 申請(qǐng)日: 2020-01-17
• 公開（公告）號(hào): CN111258788A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 易建亮;趙偉;顏深根
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海商湯智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/00
• 分類號(hào): G06F11/00;G06F11/34
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng);董文俊

本發(fā)明實(shí)施例提供了磁盤故障預(yù)測方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，包括：獲取磁盤檢測數(shù)據(jù)，所述磁盤檢測數(shù)據(jù)包括磁盤的當(dāng)前檢測數(shù)據(jù)和歷史檢測數(shù)據(jù)；從所述磁盤檢測數(shù)據(jù)中獲取多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)；基于所述多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)，得到所述磁盤的第一故障預(yù)測類別；基于所述磁盤的第一故障預(yù)測類別，得到所述磁盤出現(xiàn)故障的概率。本發(fā)明實(shí)施例，可以預(yù)測磁盤出現(xiàn)故障的概率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及磁盤故障預(yù)測方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展，服務(wù)器中需要存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)越來越多。服務(wù)器均包括中央處理器(central processing unit，CPU)、內(nèi)存、存儲(chǔ)介質(zhì)等部件。CPU和內(nèi)存的壽命一般在8～10年，而磁盤作為一種重要的存儲(chǔ)介質(zhì)，壽命一般在3～5年。根據(jù)統(tǒng)計(jì)大規(guī)模集群系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)可知，50％～60％以上的故障來源于磁盤等存儲(chǔ)介質(zhì)，剩下40％～50％的故障來源于其他部件的總和，如CPU、主板、圖形處理器(graphics processing unit，GPU)、陣列卡等部件。此外，相對(duì)于其他部件，磁盤的數(shù)量較多，在大規(guī)模集群系統(tǒng)中由于磁盤故障而對(duì)集群性能影響較大。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供磁盤故障預(yù)測方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，用于預(yù)測磁盤出現(xiàn)故障的概率。

第一方面提供一種磁盤故障預(yù)測方法，包括：獲取磁盤檢測數(shù)據(jù)，所述磁盤檢測數(shù)據(jù)包括磁盤的當(dāng)前檢測數(shù)據(jù)和歷史檢測數(shù)據(jù)；從所述磁盤檢測數(shù)據(jù)中獲取多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)；基于所述多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)，得到所述磁盤的第一故障預(yù)測類別；基于所述磁盤的第一故障預(yù)測類別，得到所述磁盤出現(xiàn)故障的概率。在本公開實(shí)施例中，可以從磁盤的檢測數(shù)據(jù)中獲取多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)，基于多組目標(biāo)檢測數(shù)據(jù)得到磁盤的故障預(yù)測類別，并基于故障預(yù)測類別得到磁盤出現(xiàn)故障的概率，從而實(shí)現(xiàn)較為準(zhǔn)確的磁盤故障預(yù)測。

作為一種可能的實(shí)施方式，所述方法還包括：基于所述磁盤所在服務(wù)器的類型、所述磁盤的使用年限、所述磁盤所在服務(wù)器上的運(yùn)行業(yè)務(wù)、所述磁盤的壞塊率和所述磁盤的性能參數(shù)中的至少一種，校正所述磁盤出現(xiàn)故障的概率。由于磁盤出現(xiàn)故障的概率不僅與磁盤當(dāng)前的運(yùn)行狀態(tài)有關(guān)，還與磁盤的使用環(huán)境、使用年限、性能參數(shù)、壞塊率等信息有關(guān)，因此，在根據(jù)磁盤的運(yùn)行狀態(tài)數(shù)據(jù)預(yù)測出磁盤出現(xiàn)故障的概率之后，可以使用上述信息對(duì)預(yù)測出的概率進(jìn)行修正，以便提高磁盤出現(xiàn)故障的概率的準(zhǔn)確性。

作為一種可能的實(shí)施方式，所述基于所述磁盤所在服務(wù)器的類型、所述磁盤的使用年限、所述磁盤所在服務(wù)器上的運(yùn)行業(yè)務(wù)、所述磁盤的壞塊率和所述磁盤的性能參數(shù)中的至少一種，校正所述磁盤出現(xiàn)故障的概率包括：若所述磁盤所在服務(wù)器的類型為特定類型、所述磁盤的使用年限大于第一閾值、所述磁盤所在服務(wù)器上的運(yùn)行業(yè)務(wù)為特定業(yè)務(wù)、所述磁盤的壞塊率大于第二閾值和所述磁盤的性能參數(shù)滿足特定條件中的至少一項(xiàng)滿足，將所述磁盤出現(xiàn)故障的概率校正為第二故障預(yù)測類別對(duì)應(yīng)的概率。

作為一種可能的實(shí)施方式，所述方法還包括：在所述磁盤出現(xiàn)故障的概率達(dá)到第三閾值的情況下，觸發(fā)針對(duì)所述磁盤的預(yù)故障處理流程。在預(yù)測出的磁盤出現(xiàn)故障的概率較大的情況下，可以觸發(fā)針對(duì)磁盤的預(yù)故障處理流程，進(jìn)行相應(yīng)的處理，以便可以對(duì)出現(xiàn)故障較大的磁盤進(jìn)行提前處理，從而可以盡量地避免磁盤出現(xiàn)故障的可能。

作為一種可能的實(shí)施方式，所述基于所述磁盤的第一故障預(yù)測類別，得到所述磁盤出現(xiàn)故障的概率包括：基于所述磁盤的第一故障預(yù)測類別以及預(yù)設(shè)的故障預(yù)測類別與故障概率區(qū)間之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，得到所述磁盤出現(xiàn)故障的概率區(qū)間。