[發明專利]一種芯片燒錄檢測方法、系統和計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010051378.X
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN111275674A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 周露露;鐘曉欣
• 申請（專利權）人: 佛山普瑞威爾科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00
• 代理公司: 佛山粵進知識產權代理事務所(普通合伙) 44463
• 代理人: 王儲

本發明提供一種芯片燒錄檢測方法、系統和計算機可讀存儲介質，所述方法包括：采集獲取PCB板的原始圖像信息；采用模板小圖匹配算法將匹配到的每個獨立芯片在所述原始圖像信息中分割出，輸出分割好的圖像信息；基于完整的芯片樣本對每個芯片的殘缺率進行計算；判斷每個芯片的殘缺率是否超過預設的殘缺閥值，如果目標芯片的殘缺率未超過預設的殘缺閥值，則對其進行殘缺合格標記；從分割好的圖像信息中篩選出殘缺合格標記的所有芯片，并采用燒錄裝置對其進行批量燒錄程序；待程序燒錄完成后，通過檢測裝置對所有殘缺合格標記的芯片進行程序檢測。本發明能夠實現對PCB板上的多個芯片進行批量燒錄檢測，且檢測的準確度較高。

技術領域

本發明涉及芯片燒錄技術領域，尤其涉及一種芯片燒錄檢測方法、系統和計算機可讀存儲介質。

背景技術

目前市場上大部分的電子產品均需要使用芯片進行控制，因此需要對芯片進行程序的燒錄。

在汽車ECU模塊、空調控制模塊等控制設備的生產領域，需要在電路組裝好之后將相關控制邏輯程序燒錄到芯片中。燒錄芯片時，需要將芯片或者相關電路板固定在夾具等儀器上，并與安裝在夾具上的燒錄器連接好，然后操作上位機來控制燒錄器對芯片進行燒錄，并在燒錄完畢之后將芯片或電路板從夾具上拆下，完成一個芯片的燒錄工作。

同一批次的控制設備的硬件結構是完全相同的，需要燒錄到芯片中的控制邏輯程序也是完全相同的，因此在批量生產控制設備時，對芯片的燒錄是一項機械重復的繁瑣工作。傳統多是采用人工方式來實現的。首先，操作員在燒錄芯片時需要一一對應芯片的軟件序號和電路板上芯片的位置號，操作繁瑣且復雜，而且每次只能燒錄一個芯片，工作效率低，無法達到大批量生產的要求；其次，在燒錄過程中操作員容易將軟件序號和芯片位置號對應錯誤，造成芯片產品的不良。因此在芯片燒錄完成后，還需要及時對燒錄完成的芯片進行良率檢測。目前的檢測方式多是采用專門的檢測設備對芯片燒錄的程序進行檢測，檢測方式較為單一，芯片整體檢測的準確度不高。

發明內容

為了解決上述至少一個技術問題，本發明提出了一種芯片燒錄檢測方法、系統和計算機可讀存儲介質。

為了實現上述目的，本發明第一方面提出了一種芯片燒錄檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

采集獲取PCB板的原始圖像信息，所述PCB板上排布有多個芯片；

獲取所述PCB板上的芯片型號，并根據所述芯片型號查找到對應的模板小圖；

采用模板小圖匹配算法將所述模板小圖與所述原始圖像信息進行匹配，并將匹配到的每個獨立芯片在所述原始圖像信息中分割出，輸出分割好的圖像信息；

基于完整的芯片樣本對每個芯片的殘缺率進行計算；

判斷每個芯片的殘缺率是否超過預設的殘缺閥值，如果目標芯片的殘缺率超過預設的殘缺閥值，則對其進行殘缺不合格標記，如果目標芯片的殘缺率未超過預設的殘缺閥值，則對其進行殘缺合格標記；

從分割好的圖像信息中篩選出殘缺合格標記的所有芯片，并采用燒錄裝置對其進行批量燒錄程序；

待程序燒錄完成后，通過檢測裝置對所有殘缺合格標記的芯片進行程序檢測，并根據檢測結果判斷對應的芯片是否為合格產品。

本方案中，采用燒錄裝置對其進行批量燒錄程序，具體包括：

對分割好的圖像信息進行圖像處理以識別所有殘缺合格標記芯片的燒錄點；

標記所有殘缺合格標記芯片的燒錄點在分割好的圖像信息中的坐標位置；

基于所有燒錄點的坐標位置選配與其相對位的燒錄針，并控制所述燒錄針接觸于燒錄點，以使所述燒錄裝置對各個芯片進行燒錄程序。

本方案中，基于完整的芯片樣本對每個芯片的殘缺率進行計算，具體包括：