[發明專利]元器件失效率預計方法、裝置、計算機設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202010045849.6
• 申請日: 2020-01-16
• 公開（公告）號: CN111274687A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 胡湘洪;于迪;聶國健;楊云;李欣榮
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F30/17;G06F119/02;G06F119/14
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 張彬彬

1.一種元器件失效率預計方法，其特征在于，包括：

確定待測試元器件組中的失效元器件，并獲取所述失效元器件的使用總時長、失效數量和所述失效元器件在所述待測試元器件中的置信度；其中，所述待測試元器件組中的元器件類型相同；

根據所述使用總時長、所述失效數量和所述置信度確定所述待測試元器件組在不同參考應力下的基本失效率，得到多個基本失效率；

根據所述待測試元器件組的所述元器件類型，確定所述待測試元器件組在不同誘發應力下的影響系數，得到多個影響系數；其中，所述誘發應力與所述參考應力的應力類型相同；

根據所述元器件類型和所述待測試元器件組的元器件等級確定質量系數；

獲取在不同的所述誘發應力下所述失效元器件的持續工作時間，并根據所述持續工作時間計算所述失效元器件在不同所述誘發應力下的持續工作時間占比，得到多個持續工作時間占比；

根據所述多個基本失效率、所述多個影響系數、所述質量系數和所述多個持續工作時間占比確定所述待測試元器件組的失效率。

2.根據權利要求1所述的元器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據所述多個基本失效率、所述多個影響系數、所述質量系數和所述多個持續工作時間占比確定所述待測試元器件組的失效率，包括：

計算所述待測試元器件組在各個所述參考應力下的所述基本失效率和在與所述參考應力對應的所述誘發應力下的影響系數的乘積，得到多個第一乘積；

計算所述多個第一乘積的和，得到第一累計和；

分別計算所述第一累計和與所述失效元器件在各個所述誘發應力下的持續工作時間占比的乘積，得到多個第二乘積；

計算所述多個第二乘積的和，得到第二累計和；

計算所述第二累計和與所述質量系數的乘積，得到所述待測試元器件組的失效率。

3.根據權利要求1所述的元器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據所述多個基本失效率、所述多個影響系數、所述質量系數和所述多個持續工作時間占比確定所述待測試元器件組的失效率，包括：

通過公式(1)確定所述待測試元器件組的失效率：

其中，λ表示所述待測試元器件組的失效率，λ_i表示所述待測試元器件組在第i種所述參考應力下的基本失效率，π_i表示所述待測試元器件組第i種所述誘發應力對應的影響系數，π_Q表示所述質量系數，P_j表示與第j個所述誘發應力對應的所述持續工作時間占比。

4.根據權利要求1所述的元器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據所述使用總時長、所述失效數量和所述置信度確定所述待測試元器件在不同參考應力下的基本失效率，得到多個基本失效率，包括：

通過公式(2)確定所述多個基本失效率：

其中，λ_i表示在第i種所述參考應力下的所述基本失效率，γ表示所述失效數量，T₀表示所述使用總時長，α表示所述置信度，χ²_1-α表示所述失效元器件在所述待測試元器件組中的卡方分布。

5.根據權利要求1所述的元器件失效率預計方法，其特征在于，所述獲取所述失效元器件的使用總時長，包括：

根據所述元器件類型確定所述失效元器件在各個所述誘發應力下的加速系數；

根據在不同的所述誘發應力下所述失效元器件的持續工作時間和所述加速系數確定所述失效元器件的在各個所述參考應力量下的使用時長；

根據所有所述失效元器件的使用時長確定所述失效元器件的使用總時長。

6.根據權利要求5所述的元器件失效率預計方法，其特征在于，所述根據在不同的所述誘發應力下所述失效元器件的持續工作時間和所述加速系數確定所述失效元器件的在各個所述參考應力量下的使用時長，包括：

通過公式(3)確定所述使用時長：

其中，t'表示所述使用時長，t_i表示在第i種所述誘發應力下所述失效元器件的持續工作時間，AF_i表示在第i種誘發應力下的所述加速系數。