[發(fā)明專利]元器件失效率預(yù)計(jì)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010045849.6
• 申請(qǐng)日: 2020-01-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111274687A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡湘洪;于迪;聶國(guó)健;楊云;李欣榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號(hào): G06F30/20
• 分類號(hào): G06F30/20;G06F30/17;G06F119/02;G06F119/14
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 張彬彬

本申請(qǐng)涉及一種元器件失效率預(yù)計(jì)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。所述元器件失效率預(yù)計(jì)方法在傳統(tǒng)的失效率預(yù)計(jì)模型基礎(chǔ)上引入了所述多個(gè)影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比，從而建立所述元器件失效率預(yù)計(jì)模型。本申請(qǐng)實(shí)施例所述元器件失效率預(yù)計(jì)方法將傳統(tǒng)的元器件失效率預(yù)計(jì)模型按照所述誘發(fā)應(yīng)力類型拆分為更為精細(xì)的預(yù)計(jì)步驟，使得所述待測(cè)試元器件組的失效率更加符合所述待測(cè)試元器件組的實(shí)際使用情況。解決了傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型失效率與實(shí)際失效率具有較大的預(yù)計(jì)偏差的技術(shù)問(wèn)題，達(dá)到了達(dá)到減小所述預(yù)計(jì)失效率與實(shí)際失效率預(yù)計(jì)偏差的技術(shù)效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及元器件可靠性預(yù)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種元器件失效率預(yù)計(jì)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

可靠性預(yù)計(jì)是元器件可靠性設(shè)計(jì)的主要工作項(xiàng)目之一，可靠性預(yù)計(jì)對(duì)預(yù)估元器件可靠性水平、定位薄弱環(huán)節(jié)、開(kāi)展可靠性試驗(yàn)等的重要的支撐作用。可靠性預(yù)計(jì)實(shí)施的基礎(chǔ)是建立元器件失效率預(yù)計(jì)模型，失效率預(yù)計(jì)模型通常由各種預(yù)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)、手冊(cè)等提供。

目前應(yīng)用較多的失效率預(yù)計(jì)模型是傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型，在傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型中元器件失效率由基本失效率連乘多個(gè)影響系數(shù)得到。傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型中不同影響系數(shù)在連乘過(guò)程中會(huì)協(xié)同放大或縮小，但在實(shí)際應(yīng)用中，元器件失效可能是由多種失效機(jī)理誘發(fā)，不同的失效機(jī)理對(duì)不同應(yīng)力的敏感性不同，失效部位也有不盡相同。因此，通過(guò)傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型得到的失效率與實(shí)際失效率具有較大的預(yù)計(jì)偏差。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)傳統(tǒng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)預(yù)計(jì)模型得到的失效率與實(shí)際失效率具有較大的預(yù)計(jì)偏差的問(wèn)題，提供一種元器件失效率預(yù)計(jì)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

一種元器件失效率預(yù)計(jì)方法，包括：

確定待測(cè)試元器件組中的失效元器件，并獲取所述失效元器件的使用總時(shí)長(zhǎng)、失效數(shù)量和所述失效元器件在所述待測(cè)試元器件中的置信度；其中，所述待測(cè)試元器件組中的元器件類型相同；

根據(jù)所述使用總時(shí)長(zhǎng)、所述失效數(shù)量和所述置信度確定所述待測(cè)試元器件組在不同參考應(yīng)力下的基本失效率，得到多個(gè)基本失效率；

根據(jù)所述待測(cè)試元器件組的所述元器件類型，確定所述待測(cè)試元器件組在不同誘發(fā)應(yīng)力下的影響系數(shù)，得到多個(gè)影響系數(shù)；其中，所述誘發(fā)應(yīng)力與所述參考應(yīng)力的應(yīng)力類型相同；

根據(jù)所述元器件類型和所述待測(cè)試元器件組的元器件等級(jí)確定質(zhì)量系數(shù)；

獲取在不同的所述誘發(fā)應(yīng)力下所述失效元器件的持續(xù)工作時(shí)間，并根據(jù)所述持續(xù)工作時(shí)間計(jì)算所述失效元器件在不同所述誘發(fā)應(yīng)力下的持續(xù)工作時(shí)間占比，得到多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比；

根據(jù)所述多個(gè)基本失效率、所述多個(gè)影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比確定所述待測(cè)試元器件組的失效率。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述多個(gè)基本失效率、所述多個(gè)影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比確定所述待測(cè)試元器件組的失效率，包括：

計(jì)算所述待測(cè)試元器件組在各個(gè)所述參考應(yīng)力下的所述基本失效率和在與所述參考應(yīng)力對(duì)應(yīng)的所述誘發(fā)應(yīng)力下的影響系數(shù)的乘積，得到多個(gè)第一乘積；

計(jì)算所述多個(gè)第一乘積的和，得到第一累計(jì)和；

分別計(jì)算所述第一累計(jì)和與所述失效元器件在各個(gè)所述誘發(fā)應(yīng)力下的持續(xù)工作時(shí)間占比的乘積，得到多個(gè)第二乘積；

計(jì)算所述多個(gè)第二乘積的和，得到第二累計(jì)和；

計(jì)算所述第二累計(jì)和與所述質(zhì)量系數(shù)的乘積，得到所述待測(cè)試元器件組的失效率。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述多個(gè)基本失效率、所述多個(gè)影響系數(shù)、所述質(zhì)量系數(shù)和所述多個(gè)持續(xù)工作時(shí)間占比確定所述待測(cè)試元器件組的失效率，包括：