[發明專利]具溫控單元的測試裝置及其應用的測試分類設備

有效

• 申請號: 202010036550.4
• 申請日: 2020-01-14
• 公開（公告）號: CN113182198B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 周廷瑋
• 申請（專利權）人: 鴻勁精密股份有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 侯奇慧

本發明公開一種具溫控單元的測試裝置及一種應用具溫控單元的測試裝置的測試分類設備，其中具溫控單元的測試裝置的溫控單元以第一溫度產生器預溫第一批次的電子元件，并以第二溫度產生器預溫電路板，溫控單元另于壓接器設置第一感測器，以感測電子元件的表面溫度，并以第二感測器感測電路板的溫度，第一感測器及第二感測器將電子元件表面溫度感測數據及電路板溫度感測數據傳輸至一處理器，處理器將電子元件表面溫度感測數據及電路板溫度感測數據與數據庫作分析，即可獲知電子元件的內部溫度是否到達預設測試溫度，以便迅速進行第一批次的電子元件測試作業，以有效提升第一批次電子元件的測試準確性及測試產能。

技術領域

本發明提供一種可獲知第一批次電子元件的內部溫度到達預設測試溫度而執行測試作業，以有效提升第一批次電子元件的測試準確性及測試產能的具溫控單元的測試裝置。

背景技術

電子元件應用于高溫作業環境或低溫作業環境，于執行測試作業時，測試分類設備必須使電子元件于模擬實際作業環境的預設測試溫度范圍執行測試；因此，測試分類設備配置有溫控裝置，使電子元件在預設測試溫度范圍執行熱測作業或冷測作業。然而電子元件區分有內部溫度(Tj)及表面溫度(Tc)，于測試作業的溫控過程中，封測業者以電子元件的內部溫度(Tj)作為預設測試溫度的標準，但電子元件的內部溫度(Tj)必須通過測試機的電性連結才能讀取獲得，當封測業者的測試機沒有開放提供電子元件的內部溫度(Tj)數值時，設備業者的測試分類設備僅能通過感測電子元件的表面溫度(Tc)，并依工作人員的經驗而推估其內部溫度(Tj)是否在預設測試溫度范圍，但此方式在測試機本身的溫度與電子元件的溫度具有很大的溫差而加劇熱傳導效應時，即經常導致電子元件的內部溫度(Tj)無法在預設測試溫度范圍，這種情形常見于第一批次電子元件的測試作業。

請參閱圖1，測試分類設備的測試裝置設有一壓接及移載電子元件10的壓接器21，并于壓接器21裝配有致冷芯片22，利用致冷芯片22依測試作業所需而升溫或降溫電子元件，另于壓接器21的端部設有吸嘴23，以拾取電子元件10，并于吸嘴23的周側設有感溫器24，以感測電子元件10的表面溫度(Tc)，并將感測數據傳輸至中央控制裝置(圖未示出)；兩個電性連接的電路板25及測試座26，測試座26承置及測試電子元件10，電路板25電性連接封測業者所提供的測試機27，測試機27再信號連接至中央控制裝置，由中央控制裝置控制相關裝置作動。

然而如前所述，封測業者的測試機27沒有開放提供電子元件10的內部溫度(Tj)，設備業者所制作的測試分類設備僅能通過感溫器24讀取電子元件10的表面溫度(Tc)，并以工作經驗推估電子元件10的內部溫度(Tj)可能到達預設測試溫度范圍；此方式卻常在第一批次電子元件10的測試作業中發生誤測的情形，例如預設測試溫度范圍在130±10℃，雖然致冷芯片22可以將電子元件10的表面溫度(Tc)加熱在130±10℃的溫度范圍內，但因測試機27于初始測試時，其本身的溫度大約只在15～25℃間，導致第一批次電子元件10的內部溫度(Tj)將會大量的透過電路板25及測試座26而熱傳導至測試機27，以致電子元件10的內部溫度(Tj)低于預設測試溫度范圍130±10℃，致使測試機27誤判第一批次的電子元件10為不合格品，但實際上第一批次的電子元件10并非真正的不合格品，只不過是內部溫度(Tj)因熱傳導至測試機27而導致低于預設測試溫度范圍，而此種誤測的情形必須一直到測試機27經熱傳導升溫至相當的程度后，才能使后續電子元件10的熱傳導降低，后續電子元件10的內部溫度(Tj)也才會趨近于表面溫度(Tc)而獲得改善，一般而言，大約經過3、4顆第一批次電子元件10的測試后，這種誤測的情形即可獲得改善，由于該前3、4顆第一批次電子元件10并非真正的不合格品，因此工作人員必須再次將該前3、4顆第一批次電子元件10重新測試，如此即影響測試分類機的測試產能。

發明內容