[發明專利]檢測光學鏡組的質量的設備與方法

在審

• 申請號: 202010036144.8
• 申請日: 2020-01-14
• 公開（公告）號: CN111122439A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 談智偉;吳宗穎
• 申請（專利權）人: 儀銳實業有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/958
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

一種檢測光學鏡組的質量的設備與方法。所述設備具有波前傳感器、波前修正組件以及鏡組測量組件。所述波前傳感器可測量第一鏡片組件的第一波前，以使波前修正組件根據第一波前產生第一模擬波前。鏡組測量組件可根據第一模擬波前與第二鏡片組件信息獲得鏡組波前以知悉光學鏡組的質量。本發明所述的設備與方法可提升檢測光學鏡組質量的效率并降低成本。

技術領域

本發明關于一種檢測光學鏡組的質量的設備與方法，尤其指一種通過波前傳感器與波形修正組件生成第一模擬波前，并通過鏡組測量組件根據第一模擬波前與第二鏡片組件信息以知悉光學鏡組的質量的設備與方法。

背景技術

現今的手機與相機鏡頭通常由多個鏡片組合而成(例如，由七片鏡片組合而成)，常見的鏡頭檢測方法通常需要測得每片鏡片或需要測得多片鏡片組合在一塊的實際波前，以了解整組鏡頭質量的優劣。因為鏡頭檢測設備需要一步步地作動以測量所有鏡片或其組合的質量，故傳統鏡頭檢測方法相當耗時。

發明內容

因此，為了克服昔知技術的不足之處，本發明實施例提供一種檢測光學鏡組的質量的設備與方法。所述設備具有波前傳感器、波形修正組件以及鏡組測量組件。波前傳感器可測量光學鏡組中的第一鏡片組件的第一波前，接著，波形修正組件可模擬出與第一波前具有相同波形的第一模擬波前，最后，鏡組測量組件可結合第一模擬波前與光學鏡組的第二鏡片組件信息以知悉鏡組的質量，其中第二鏡片組件信息可以是第二波前或是第二模擬波前。一般而言，光學鏡組包括多個相同或不同的鏡片，而鏡片的模具可以是一模十六穴，即，十六穴可分別產制十六個不同的鏡片，其中在模具的同一個穴可生產多片彼此近似的鏡片。所述方法僅需一次性的對每一個穴所生產的其中一片鏡片測量并模擬它的波前(或者，一次性的對多個穴所個別生產的一片鏡片的鏡片組合測得并仿真波前)，即可利用模擬波前搭配部分鏡片的實際波前，或是利用多個模擬波前的排列組合來知悉整組鏡頭的波前，以判斷光學鏡組的質量，即，所述方法無須測量模具中的每一個穴所生產的每一片鏡片，而是取得每一個穴所生產的一片鏡片的模擬波前以替代同一個穴所生產的每一片鏡片的實際波前，來進一步知悉光學鏡組的質量，以此節省檢測光學鏡組所耗費的時間并降低工作成本。

基于前述目的的至少其中之一，本發明實施例提供一種檢測光學鏡組的質量的方法，其具有三個步驟。步驟A是通過波前傳感器(wavefront sensor)測量第一鏡片組件的第一波前，其中第一鏡片組件是由一個或多個第一鏡片組成。步驟B是通過波形修正組件并根據第一波前生成第一模擬波前，其中第一模擬波前的波形是模擬第一波前的波形。步驟C是根據第一模擬波前以及第二鏡片組件的第二鏡片組件信息獲得鏡組波前以知悉光學鏡組的質量，其中第二鏡片組件由一個或多個第二鏡片組成，以及第二鏡片組件信息為第二波前或根據第二波前生成的第二模擬波前。

可選地，在所述步驟C中，第二波前是測量第二鏡片組件整體的波前的波形，或通過測量第二鏡片組件的多個第二鏡片的多個波前的波形。

可選地，在所述步驟C中，第二模擬波前的波形是模擬第二鏡片組件整體的波前所生成，或模擬第二鏡片組件的多個第二鏡片的多個波前所生成。

可選地，在所述步驟B中，波形修正組件為變形鏡(mirror)。

可選地，所述變形鏡為分立表面變形鏡或連續表面變形鏡。

可選地，所述光學鏡組為手機鏡頭或相機鏡頭。

可選地，所述光學鏡組是由七片鏡片組成。