[發明專利]檢測光學鏡組的質量的設備與方法在審
| 申請號： | 202010036144.8 | 申請日： | 2020-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN111122439A | 公開（公告）日： | 2020-05-08 |
| 發明（設計）人： | 談智偉;吳宗穎 | 申請（專利權）人： | 儀銳實業有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/01 | 分類號： | G01N21/01;G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱麗華 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 光學 質量 設備 方法 | ||
1.一種檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，所述方法包括：
步驟A，通過波前傳感器測量第一鏡片組件的第一波前，其中第一鏡片組件由一個或多個第一鏡片組成；
步驟B，根據所述第一波前并通過波形修正組件以生成第一模擬波前，其中所述第一模擬波前的波形是模擬所述第一波前的波形；以及
步驟C，根據所述第一模擬波前以及第二鏡片組件的第二鏡片組件信息獲得鏡組波前以知悉所述光學鏡組的質量，其中所述第二鏡片組件由一個或多個第二鏡片組成，以及所述第二鏡片組件信息為第二波前或根據所述第二波前生成的第二模擬波前。
2.如權利要求1所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，在所述步驟C中，第二波前為測量第二鏡片組件整體的波前的波形，或通過測量第二鏡片組件的多個第二鏡片的多個波前的波形。
3.如權利要求1所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，在所述步驟C中，第二模擬波前的波形是模擬第二鏡片組件整體的波前所生成，或模擬第二鏡片組件的多個第二鏡片的多個波前所生成。
4.如權利要求1所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，在所述步驟B中，波形修正組件為變形鏡。
5.如權利要求4所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，所述變形鏡為分立表面變形鏡或連續表面變形鏡。
6.如權利要求1所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，所述光學鏡組為手機鏡頭或相機鏡頭。
7.如權利要求1所述的檢測光學鏡組的質量的方法，其特征在于，所述光學鏡組是由七片鏡片組成。
8.一種檢測光學鏡組的質量的設備，其特征在于，所述設備包括：
波前傳感器，用以測量第一鏡片組件的第一波前，其中第一鏡片組件由一個或多個第一鏡片組成；
波形修正組件，根據所述第一波前生成第一模擬波前，其中所述第一模擬波前的波形是模擬所述第一波前的波形；以及
鏡組測量組件，根據所述第一模擬波前以及第二鏡片組件的第二鏡片組件信息獲得鏡組波前以知悉所述光學鏡組的質量，其中所述第二鏡片組件由一個或多個第二鏡片組成，以及所述第二鏡片組件信息為第二波前或根據所述第二波前生成的第二模擬波前。
9.如權利要求8所述的檢測光學鏡組的質量的設備，其特征在于，所述波形修正組件為變形鏡。
10.如權利要求8所述的檢測光學鏡組的質量的設備，其特征在于，所述變形鏡為分立表面變形鏡或連續表面變形鏡。
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