[發明專利]一種ATE提供多電平電壓的方法在審
| 申請號: | 202010032527.8 | 申請日: | 2020-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN111175639A | 公開(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發明(設計)人: | 楊自洪;余琨;崔孝葉;范文萱;邢賢敏 | 申請(專利權)人: | 上海華嶺集成電路技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海海貝律師事務所 31301 | 代理人: | 宋振宇 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區中國(*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ate 提供 電平 電壓 方法 | ||
1.一種ATE提供多電平電壓的方法,其特征在于:
對測試機的兩個通道A、B串聯電阻,然后再并聯此兩個通道到芯片的一個通道上C,,然后通過ATE測試設備給通道A和B在不同的cycle施加VIH或者VIL,然后組合出四種不同的電壓;
兩個不同的電壓源并聯,屬于一種短路,會出現環流,環流的方向是從較高電壓的電源出來,即放電的方向,倒灌進入較低電壓的電源,即充電的方向,為了防止電壓源燒壞和控制并聯后的電壓值大小,串聯了電阻R1和R2;
環流的大小=電壓差/兩內阻的和;此時若要測量并聯后的端電壓,應該是等于較高電源的電動勢減去上述電流在較高電源的內阻上的壓降,也等于較低電源的電動勢加上上述電流在較低電源的內阻上的壓降;此時在測試機的通道A施加V1電壓,通道B施加V2電壓(V1V2),此時接通到芯片端的電壓V:
V=V2+R2*{(V1-V2)/(R1+R2)}。
使用ATE測試設備測pattern的時候,可以通過電壓組合的方式實現給芯片單個通道輸出4個不同電壓;使用ATE測試設備給通道A施加VIHa高電壓和VILa低電壓,通道B施加VIHb高電壓和VILb低電壓,電壓大小為:VIHaVIHbVILaVILb。
2.如權利要求1所述的一種ATE挺高多電平電壓的方法,其特征在于,可以得到如下四種電壓組合:
1)VILa和VILb組合:V=VILb+R2*{(VILa-VILb)/(R1+R2)};
2)VILa和VIHb組合:V=VILa+R1*{(VIHb-VILa)/(R1+R2)};
3)VIHa和VILb組合:V=VILb+R2*{(VIHa-VILb)/(R1+R2)};
4)VIHa和VIHb組合:V=VIHb+R2*{(VIHa-VIHb)/(R1+R2)}。
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