[發明專利]一種ATE提供多電平電壓的方法

在審

• 申請號: 202010032527.8
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111175639A
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 楊自洪;余琨;崔孝葉;范文萱;邢賢敏
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海海貝律師事務所 31301
• 代理人: 宋振宇

本發明公開了一種ATE提供多電平電壓的方法，對測試機的兩個通道A、B串聯電阻，然后再并聯此兩個通道到芯片的一個通道上C，然后通過ATE測試設備給通道A和B在不同的cycle施加VIH或者VIL,然后組合出四種不同的電壓；本發明提供的一種ATE挺高多電平電壓的方法，實現給芯片單個通道輸出4個不同電壓的一種方法，滿足了一些有特殊要求測試的芯片。

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術領域，具體的是一種ATE提供多電平電壓的方法。

背景技術

在集成電路測試中，ATE會向被測試芯片的輸入管腳在不同的時序點發送一系列的高低電壓，而在芯片的輸出管腳預期的時序點比較輸出的電壓，由此判斷測試芯片是否滿足其功能。ATE定義了Pattern即包含了時序和高低電壓，有時發送pattern的時候會有要求在不同的時序點給芯片單通道施加超過兩種不同的電壓，但目前ATE測試設備僅支持設置VIL和VIH兩種電壓。現有技術一：使用ATE測試設備的VIH和VIL提供兩種不同的電壓。此類型技術在測試pattern的時候只能通過VIH、VIL提供兩種不同電壓，不能滿足部分芯片需要大于兩種不同電壓的要求。

本技術發明提供了一種使用ATE測試設備測pattern的時候，實現給芯片單個通道輸出4個不同電壓的一種方法，可應用于上述提及的集成電路測試。該方法具有靈活方便、應用廣泛、使用簡單的優點。

發明內容

本發明為解決上述技術問題而采用的技術方案是提供一種ATE挺高多電平電壓的方法，應用于集成電路測試中，使用ATE測試設備測pattern的時候，實現給芯片單個通道輸入4個不同電壓的一種方法。

其中，具體技術方案是：

對測試機的兩個通道A、B串聯電阻，然后再并聯此兩個通道到芯片的一個通道上C，，然后通過ATE測試設備給通道A和B在不同的cycle施加VIH或者VIL,然后組合出四種不同的電壓。

兩個不同的電壓源并聯，屬于一種短路，會出現環流。電流(環流)的方向是從較高電壓的電源出來(放電的方向)，倒灌進入較低電壓的電源(充電的方向)，電流比較大，為了防止電壓源燒壞和控制并聯后的電壓值大小，串聯了電阻R1和R2。

環流的大小＝電壓差/兩內阻的和；此時若要測量并聯后的端電壓，應該是等于較高電源的電動勢減去上述電流在較高電源的內阻上的壓降，也等于較低電源的電動勢加上上述電流在較低電源的內阻上的壓降。此時在測試機的通道A施加V1電壓，通道B施加V2電壓(V1V2),此時接通到芯片端的電壓V:

V＝V2+R2*{(V1-V2)/(R1+R2)}。

本技術方案使用ATE測試設備測pattern的時候，可以通過電壓組合的方式實現給芯片單個通道輸出4個不同電壓。

使用ATE測試設備給通道A施加VIHa高電壓和VILa低電壓，通道B施加VIHb高電壓和VILb低電壓(電壓大小為：VIHaVIHbVILaVILb)，可以得到如下四種電壓組合：

1.VILa和VILb組合：V＝VILb+R2*{(VILa-VILb)/(R1+R2)}

2.VILa和VIHb組合：V＝VILa+R1*{(VIHb-VILa)/(R1+R2)}

3.VIHa和VILb組合：V＝VILb+R2*{(VIHa-VILb)/(R1+R2)}

4.VIHa和VIHb組合：V＝VIHb+R2*{(VIHa-VIHb)/(R1+R2)}

本發明相對于現有技術具有如下有益效果：