[發明專利]針腳檢測方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 202010030387.0
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111208147A
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 戴盾
• 申請（專利權）人: 普聯技術有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 劉永康

本申請屬于針腳檢測技術領域，提供了一種針腳檢測方法、裝置及系統，所述方法包括：獲取所述拍攝裝置拍攝電子器件的若干針腳得到的待檢測圖像，并確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置；將所述每一針腳的頂點位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比；若任一針腳的頂點位置的偏移量超出預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為不良。本申請實施例通過光源、一個拍攝裝置和檢測裝置實現低成本對電子器件的針腳的偏移及針腳過長或過短的不良現象進行檢測，解決針腳檢測成本高，操作復雜的問題。

技術領域

本發明電子器件的針腳檢測技術領域，尤其涉及一種針腳檢測方法、裝置及系統。

背景技術

在具有針腳的電子器件如連接器的制造過程中，外部針腳容易出現歪斜和過長過短的不良狀況，現有機器視覺檢測方案使用兩個相機進行檢測，在電子器件針腳垂直向上放置的情況下，一個相機從上往下使用遠心鏡頭拍照，確認針腳頂點是否有偏移，另外一個相機水平拍攝，確認針腳長度。另外，現有常見方案中還經常使用雙目3D成像技術或激光3D成像技術，獲取針腳3D信息后判定是否為良品。

但現有的雙相機檢查方案復雜度和成本較高，需要兩個相機兩組光源才能完成檢測，如果針腳較為密集，水平拍攝時還容易出現針腳相互遮擋的問題。且3D檢測方案也存在方案復雜度高和成本高的問題，其中激光3D方案還需要配套移動托盤，讓被測物體勻速運動實現掃描。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種針腳檢測方法、裝置及系統，以解決針腳檢測成本高，操作復雜的問題。

本發明實施例的第一方面提供了一種針腳檢測方法，包括：

獲取所述拍攝裝置拍攝電子器件的若干針腳得到的待檢測圖像，并確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置；

將所述每一針腳的頂點位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比；

若任一針腳的頂點位置的偏移量超出預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為不良。

在一個實施示例中，所述將每一所述針腳頂點的位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比，包括：

將每一所述針腳的頂點位置與標準針腳頂點圖像中對應的一個針腳的頂點位置進行對比。

在一個實施示例中，所述確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置，包括：

對拍攝到的待檢測圖像二值化處理突出針腳頂點；

根據預設亮度閾值確定處理后的待檢測圖像中每一針腳的頂點位置。

在一個實施示例中，在將每一所述針腳的頂點位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比之后，還包括：

若任一針腳的頂點位置的偏移量未超出預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為良品。

本發明實施例的第二方面提供了一種針腳檢測系統，包括：光源、拍攝裝置和檢測裝置；其中，

所述光源照射電子器件中向上放置的若干針腳；

設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的所述拍攝裝置對所述若干針腳進行拍攝；

所述檢測裝置實現第一方面中針腳檢測方法。

在一個實施示例中，所述光源照射電子器件中向上放置的若干針腳包括：

所述光源提供入射光照射向上放置的若干針腳，以使所述入射光經所述若干針腳反射后入射至所述拍攝裝置。

在一個實施示例中，所述設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的所述拍攝裝置對所述若干針腳進行拍攝，包括：

設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的拍攝裝置對所述若干針腳的頂點的反射光進行拍攝。