[發明專利]針腳檢測方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 202010030387.0
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111208147A
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 戴盾
• 申請（專利權）人: 普聯技術有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 劉永康

1.一種針腳檢測方法，其特征在于，包括：

獲取拍攝裝置拍攝電子器件的若干針腳得到的待檢測圖像，并確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置；

將所述每一針腳的頂點位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比；

若任一針腳的頂點位置的偏移量超出預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為不良。

2.如權利要求1所述的針腳檢測方法，其特征在于，所述將所述每一針腳頂點的位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比，包括：

將所述每一針腳的頂點位置與標準針腳頂點圖像中對應的一個針腳的頂點位置進行對比。

3.如權利要求1或2所述的針腳檢測方法，其特征在于，所述確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置，包括：

對拍攝到的待檢測圖像二值化處理突出針腳頂點；

根據預設亮度閾值確定處理后的待檢測圖像中每一針腳的頂點位置。

4.如權利要求3所述的針腳檢測方法，其特征在于，在將每一所述針腳的頂點位置與對應的預設標準針腳頂點位置進行對比之后，還包括：

若任一針腳的頂點位置的偏移量未超出所述預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為良品。

5.一種針腳檢測系統，其特征在于，包括光源、拍攝裝置和檢測裝置；其中，

所述光源照射電子器件中向上放置的若干針腳；

設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的所述拍攝裝置對所述若干針腳進行拍攝；

所述檢測裝置執行權利要求1-4任一項所述針腳檢測方法。

6.如權利要求5所述的針腳檢測系統，其特征在于，所述光源照射電子器件中向上放置的若干針腳包括：

所述光源提供入射光照射向上放置的若干針腳，以使所述入射光經所述若干針腳反射后入射至所述拍攝裝置。

7.如權利要求5所述的針腳檢測系統，其特征在于，所述設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的所述拍攝裝置對所述若干針腳進行拍攝，包括：

設于所述針腳斜上方且與所述光源相對設置的拍攝裝置對所述若干針腳的頂點的反射光進行拍攝。

8.一種針腳檢測裝置，其特征在于，包括：

位置確定模塊，用于獲取拍攝裝置拍攝電子器件的若干針腳得到的待檢測圖像，并確定所述待檢測圖像中每一針腳的頂點位置；

位置對比模塊，用于將所述每一針腳的頂點位置與預設標準針腳頂點位置進行對比；

第一檢測結果確定模塊，用于若任一針腳的頂點位置的偏移量超出預設閾值，則所述針腳的檢測結果為不良。

9.如權利要求8所述的針腳檢測裝置，其特征在于，還包括：

第二檢測結果確定模塊，用于若任一針腳的頂點位置的偏移量未超出預設閾值，則確定所述針腳的檢測結果為良品。

10.一種檢測裝置，其特征在于，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至4任一項所述針腳檢測方法的步驟。